第八讲 分析鉴定技术在考古中的应用(三)X荧光与衍射.pptVIP

gg24锈蚀XRD分析图谱 注：2、15：Le-纤铁矿，约10%；8：He-赤铁矿，约15%；10、20：M-磁铁矿，约40%；11：Q-石英，约5%；12：Ge-针铁矿，约30%。 2θ 第三节 X射线衍射（X-Ray Diffraction，XRD）  　　 　 X射衍射（XRD）又称X射线物相分析法，在X射线对样品的辐射下，X射线通过晶体会引发各种元素X射线的发生，各散乱线间相互干涉，发生衍射现象。通过对衍射现象进行分析，就可以获得有关构成物质的原子的排列、化合物的形态、结晶物质的物相的信息资料 ． 一.衍射的概念 X射线是电磁波，在晶体中产生周期性变化的电磁场，迫使原子中的电子和原子核也进行周期振动。因为原子核的质量比电子大得多，故其振动可以忽略。所以，振动着的电子就成了一个新的发射电磁波的波源，以球面波的方式向各个方向发出与入射X光波长、频率周期相同的电磁波。这种入射 X光按一定方向射入晶体，与晶体中电子发生作用后，再向各个方向发射X射线的现象称为散射。由于晶体中原子散射的电磁波互相干涉和相互叠加而在某一方向得到加强或抵消的现象称为衍射，其相应的方向称为衍射方向。 二. 发生衍射的条件 大量原子散射波的叠加、干涉而产生最大程度加强的光束； Bragg衍射方程： DB=BF=d sin? n? = 2d sin? 光程差为? 的整数倍时相互加强； d:狭缝的宽度 n? = 2d sin? | sin? | ≤1；当n = 1 时， n / 2d = | sin? | ≤1， 即 ? ≤ 2d ； 只有当入射X射线的波长? ≤2倍晶面间距 时，才能产生衍射 该公式表明：只有入射角?等于反射角，且入射角、晶面法线和衍射线三者共面，衍射才会发生。 Bragg衍射方程的重要作用： (1)已知? ，测?角，计算d； (2)已知d 的晶体，测?角，得到特征辐射波长? ，确定元素，X射线荧光分析的基础。 三.影响散射、衍射的因素 1）一个原子对X射线的散射能力，取决 于它的电子数。 2）晶体衍射X射线的方向，与构成晶体 的晶胞大小、形状以及入射X射线的 波长有关。 3）衍射光的强度，则与晶体内原子的类 型和晶胞内原子的位置有关。 四. X射线衍射分析的原理 X射线物相分析是以X射线衍射效应为基础的。任何一种晶体物质，都具有特定的结构参数（包括晶体结构类型、晶胞大小、晶胞中原子、离子或分子数目的多少以及它们所在的位置等），它在给定波长的X射线辐射下，呈现出该物质特有的多晶体衍射花样。因此，多晶体衍射花样就成为晶体物质的特有标志。物质的X射线衍射花样特征是分析物质相组成的“指纹脚印”。 四. X射线衍射分析原理 多相物质的衍射花样是各相衍射花样的机械叠加，彼此独立无关；各相的衍射花样表明了该相中各元素的化学结合状态。 根据多晶体衍射花样与晶体物质这种独有的对应关系，便可将待测物质的衍射数据与各种已知物质的衍射数据进行对比，借以对物相做定性分析。 注意：1）在利用X射线做物相分析时，必须同时注 意两个判据，即多晶体衍射线条的位置和强度。 2）有必要搜集各种已知物质的多晶体衍射花 样，以便与待测物质的衍射花样进行对比。 五. 粉末衍射卡片(PDF卡片) 1. 各种已知物相衍射花样的规范化工作于1938年由哈那瓦特(J. D. Hanawalt)开创。 2. 他的主要工作是将物相的衍射花样特征 (位置与强度)用d(晶面间距)和I(衍射线相对强度)数据组表达并制成相应的物相衍射数据卡片。 3. 卡片最初由“美国材料试验学会(American Society for Testing and Materials )”出版，故称ASTM卡片。 4. 1969年成立了国际性组织“粉末衍射标准联合会(Joint Committee on Powder Diffraction Standards )”，由它负责编辑出版“粉末衍射卡片 ( Powder Diffraction File) ”，称PDF卡片。 JCPDS粉末衍射文件卡片每年以约2000张的速度增长。从60年代后期开始，发展了计算机自动检索技术，将全部JCPDS粉末衍射文件卡片上的d、I数据按不同检索方法要求录入，建立总数据库,其数据仍像