【毕业设计、论文】基于USB接口的多通道金属磁记忆检测仪.pdfVIP

第 28 卷 第 4 期 无 损 探 伤 V o l. 28 N o. 4 　　　　　　　　　　　　　 　　　　　　　　　　　　　　 2 0 0 4 年 8 月 N D T A ugu st. 2004 仪器方法 基于U SB 接口的多通道金属磁记忆检测仪 林俊明　张开良　余兴增　林春景　林发炳 ( ( ) ) 爱德森 厦门 电子有限公司, 福建厦门　36 1000 摘　要: 通用串行总线U SB 已成为 PC 的标准接口, 它可以实现高速的数据传递。本文研究了U SB 接 口的结构、特点和U SB 软硬件系统的开发方法, 设计了基于U SB 接口的多通道金属磁记忆检测仪器。该仪 器具有功耗低、数据传输速率高、使用方便的特点。 关键词: 金属磁记忆; U SB ; 多通道 中图分类号: T G 115. 28　文献标识码: A 　文章编号: 167 14423 (2004) 043202 　　金属磁记忆检测( ) 是利用金属磁记忆效 MM T 应来检测部件应力集中部位的一种快速无损检测方 法。该方法可对铁磁性部件因疲劳蠕变损伤产生的 [ 1 ] 微裂纹进行早期诊断 。现有的金属磁记忆检测仪 器均采用嵌入式设计, 与 PC 机的通讯采用串行接 口或并行接口。串行通信虽然数据传递距离远但传 递速度慢, 并行通信虽数据传递速度快但传递距离 近, 二者都需采用外界电源单独供电。 ( U SB U n iver sa l Ser ia l B u s) 是一种支持即插即用的新型接口, 主 系统和U SB 外围设备之间的数据通过一个 4 针的 接头连接起来传输, 具有 自带电源、传输速度快, 支 持热插拔、易于扩展、使用方便等优点。 接口的 图1　基于U SB 接口的多通道金属磁记忆检测仪器原理框图 U SB 传输速度要比串行口快得多,U SB v 1. 1 规范的数据 的CPU , 较流行的专用芯片有N at ion a l Sem icon 传输速率可达 1. 5～ 2 , 2. 0 所规定的传 du cto r 公 司 的 U SBN 96C 2 和 Ph ilip s 公 司 的 M b s U SB v ( ) [2 ] PD IU SBD 12 等。为了充分利用原有的研究成果, 选 输速率达到了 360～ 480 。 M b s 用后一种方式, 即单片机+ U SB 接 口芯片。综合比 1　硬件设计 较此类芯片, 我们选用Ph ilip s 公司的PD IU SBD 12。 1. 1　仪器结构 PD IU SBD 12 是仪器U SB 技术得 以实现的关 图 1 为基于U SB 接 口的多通道金属磁记忆检 键。它是 Ph ilip s 公司的一个带并行总线的U SB 接 测仪器原理框。它包括磁敏传感器、温度传感器及测 口器 件, 支 持 本 地 的 DM A 传 输。它 完 全 符 合