密度提取中吸收系数的使用.pdfVIP

电子学与光电子学 101 围内可调，且分辨率在0．5~1us。(2)电路输出要有较强的驱动能力，输出端的电压要求大于5V，且幅度 可调。(3)从应用的便携性考虑，要求电路要尽量小型化。 图 1 可调同步精密延时系统设计框图 系统核心电路由延时模块AD9501、模数转换模块AD7821和输出功率放大模块组成。延时模块由两 级延时器AD9501级联实现，第一级为粗调部分，最大延时 l0 ，精度为40as。第二级为细调部分，最 大延时 100ns，精度为0．4as。这样延时模块可实现从 1O 上的精密延时，精度为0．4ns。粗延时和细 延时值的大小，是通过改变各 自对应电位器上的电压来实现的，模数转换模块就是将此模拟电压量转换为 数字量，以便作为延时器AD9501数字端口的输入量。功率放大模块运用雪崩三极管产生大电流、快上升 沿的触发信号，达到增强系统驱动能力的目的。在雪崩三极管基极和发射极之间加负电压，使基射结反偏。 经延时后的脉冲信号作为雪崩三极管基极的输入电压，随着输入信号幅度的逐渐增大，雪崩三极管由截止 区过渡到雪崩区，发射级电流不再受基极电压的控制，产生幅度大、上升沿快的脉冲信号。外围电路包括 脉冲信号产生单元和边沿信号产生单元，分别为模数转换模块AD7821的读、写端 口提供相应信号。 4．9 密度提取中吸收系数的使用 刘 进 章林文 刘 军 施将君 研究了能谱效应的影响，进行了理想的MC(MonteCarlo)数值闪光照相。能谱效应是由不同能量的X 光与材料发生作用的微观截面不同引起的。能谱效应降低了密度提取的精度，因而在密度提取中需要考虑 能谱效应，即使用反应能谱效应的有效吸收系数，而不是单能吸收系数。在闪光照相中能谱效应体现为： 光路上面质Ip(t)t越大，有效质量吸收系数 (，)越小；面质量越大，对应的自洽光程也越大，即 (，)(，)， 越大。 利用能谱效应的这一特性提出了密度提取中消除吸收系数影响的迭代法，并证明了迭代的收敛性。迭 代的简要过程如下：迭代计算中初始的能通量谱 ( 由MC模拟的电子击靶轫致辐射过程得到。迭代时， 假定一个初始的密度 (．)『，则可由方程 (，)=一In 计算出对应的有效质量吸收系数 o(z)，再由方程 (_ln ／(，)f】_三(f)／(】 (2) 』0 计算出新的密度 (D，然后按上述方法重复计算 棚(f)和 +1(D，直至 1(D与 D之差满足收敛条件，最 终的 }什1(，)即为消除能谱效应的密度分布。 在FTO(FrenchTestObject)客体密度提取中使用了3种不同的吸收系数—MC谱光子平均能量对应的单 能质量吸收系数、波恩近似公式谱有效质量吸收系数和MC谱有效质量吸收系数。结果表明，使用MC谱 102 中国工程物理研究院科技年报 有效质量吸收系数有效地减小了密度提取中能谱效应的影响。使用MC谱平均能量对应的吸收系数重建结 果最差，均方根误差大于 5‰ 使用粗略的波恩公式能谱下的有效吸收系数重建结果次之，密度均方根误 差小于 1．5％；使用精确MC谱下的有效吸收系数重建结果最佳，均方根误差小于0．5％。见表 l。 表 1 平均密度和均方根误差 4．1O 利用数值模拟测量闪光照相中的II-D曲线 刘 军 刘 进 施将君 刘瑞根 管永红 肖智强 H’-D曲线表明了照射量与底片光学密度之间的关系，是定量提取客体信息的基础。尽管实验上提出了 许多测量 “屏一片”的H—D 曲线的方法，但这些方法所采用的实验布局与实际照相环境存在一定的差异。 第一，许多实验采用的光源是单能源(如6。Co)，没有体现底片系统对不同X射线能量的响应特性；第二， 实验装置与实际照相模型存在比较大的差异，由于光子能谱和角分布以及散射的影响，测量的H-D 曲线 往往很难用到实际照相中；第三，也是更重要的一点是 目前测量高能x射线照射量的仪器的测量误差较大，