嵌入式系统在SPI+FLASH存储器测试应用.pdfVIP

中国电源学会第十九届学术年会论文集 649 FLASH存储器测试中的应用 嵌入式系统在SPI 张卫平，陈凝 (北方工业大学) Emml：womendeai208@sina．com 摘要：针对嵌入式系统在SPI FLASH存储器功能测试中的应用方法，本文介绍了在SPIFLASH测试中引入嵌入式系统的原因，然 后详细介绍了SPI FLASH嵌入式系统的软硬件的设计思路及方法。最后介绍了如何进行系统可靠性验证 关键词：FLASH；功能测试；嵌入式系统 1．引言 们的关系就好比人的大脑和手，“大脑”(系统测试板)负责测试芯 随着当今移动存储技术的快速发展和移动存储市场的高速 片的好与坏，并将结果通过通信告知与“手”(分选器)，“手”就负 责将好的芯片和坏的芯片分开放置，达到好坏芯片分拣的目的。 扩大，FLASH型存储器的用量迅速增长。FLASH芯片由于其便 携、可靠、成本低等优点，在移动产品中非常适用。市场的需求催 这次主要讨论的是测试板的硬件设计。在软件层上，实际就是在 测试系统软件的设计，包括实时性操作系统的移植，测试算法的 生了一大批FLASH芯片研发、生产、应用企业。为保证芯片长期 设计等。 可靠的工作，这些企业需要在产品出厂前对FLASH存储器进行高 速和细致地测试，当今的专用测试机台，其功能十分全面，能完成 各种存储器的测试需求，但因其售价高昂，在一些功能简单，性能 较低的存储器测试中造成机台性能的极大浪费。而另一方面，随 着芯片技术的发展，使得单个嵌入式控制芯片具有更强的处理能 力，而且使集成多种接口已经成为可能，众多嵌入式芯片生产厂 商已经将注意力集中在这方面。另一方面的原因就是应用的需 要，由于对产品可靠性、成本、更新换代要求的提高，使得嵌入式 系统逐渐从纯硬件实现和使用通用计算机实现的应用中脱颖而 图l测序系统示意图 出，成为近年来令人关注的焦点，随着技术日新月异的发展，嵌入 3．1．1SPIF1AsH测试板硬件设计 式系统的开发成本大大降低，应用日益广泛。为了满足企业降低 1)主控板电源部分设计 成本的需求，在一些存储芯片的功能测试中引入成本较低的基于 嵌入式系统，寻求一种成本较低的测试解决方案的研究就显得十 分必要。 片是EXAR公司生产的低压差芯片，其特点是输出电流大。输出 2．SPI 电压精度高，稳定性高，宽电压输入，此系列LDO芯片的输出电 FLASH功能测试 流高达800mA，输出电压的精度在±l％之内，可广泛应用于手持 SPI是一个环形总线结构，由ss(cs)、sck、sdi、sdo构成，其时序 其实很简单，主要是在sck的控制下，两个双向移位寄存器进行数式仪表、数字家电、工业控制等领域。在电路输入输出端接一个 100,F的电容，可改善瞬态响应和稳定性。 据交换。基于这种接口的FLASH存储芯片有占用系统I／O资源 少，速度传输快的特点，在各种领域被广泛用于数据存储。 2)最小系统设计 要解决SPIFLASH问题，必须有一个合理的测试方法，以此 包括晶振电路，复位电路和J-I’AG调试电路的设计，系统使用 l1．0592M晶振及32．768K两路晶振电路分别提供芯片基振及芯片 来判断该存储芯片工作状态是否正常，正常情况下，FLASH芯片 进行功能测试时，机台会往