液体闪烁测量中的淬灭和淬灭校正.pdfVIP

北京高教学会实验室工作研究会2007年学术研讨会论文集 2．探测光子的光电倍增管和前置放大器把光信号转换成电信号； 3．把电信号进行放大，分析，记录。由于闪烁液是液体，放射性样品溶解，分散或悬浮于闪烁 液中与闪烁液紧密接触几何条件接近4Ⅱ，没有样品自吸收、散射及几何条件的影响，因此测量精 度和测量效率大大提高。它以成为测量3H14C等软B射线最灵敏和最常用的方法。 自二十世纪七十年代计算机技术和液闪测量技术的结合有力的促进了液体闪烁谱仪的发展。一 些新的行之有效的技术成就和探测方法都能迅速地得到反应，仪器在多用途和多功能方面有了长足 的进步。计算机的应用不但使仪器程序编辑功能与控制能力大大提高，而且使仪器本身具有了很强 的数据处理能力。一些以前要经过繁杂的人工计算才能获得的结果，如今可以用仪器直接得到。 液闪过程发生在闪烁液内，放射性样品的B粒子激发溶剂分子，溶剂分子把激发能传递给第一 闪烁剂分子，第一闪烁剂分子退激发光，如果使用第二闪烁剂，则第一闪烁剂分子所发荧光将激发 第二闪烁剂分子，第二闪烁剂分子退激发出荧光，光子在闪烁液中传播，然后经过测量瓶肇和光电 倍增管窗在光阴极上产生光电子，电信号经电子学线路处理才能被计数，这其中的任何一步都可能 有能量损失导致计数效率降低。因此将所有导致计数效率降低的凶素统称之为淬灭。淬灭导致液闪 测量的样品的B谱或其它电子能谱左移(向低能方向漂移)和计数效率降低。 淬灭的种类很多常见的主要有以下几种： (1)相淬灭：荧光产生前的淬灭主要是相淬灭。它主要发生在非均相测量，这时样品或沉积在 支持物、或分布于微小的水相珠体内，B粒子在与闪烁液接触前必须先通过各种吸收物质，使能量 减弱，降低了B粒子产生荧光的能力，造成计数效率降低。 (2)电离淬灭：荧光量子产额与荷电粒子的电荷和能量有关，即同其电离的能力有关，这一因 素就是电离淬灭。如5KeV的低能电子所产生的闪烁效率只有高能电子的40％，而5MeV的Ⅱ粒子 仅有高能电子的10％。电离淬灭使闪烁液对粒子能量的响应偏离线性，使闪烁过程与计数效率之间 的关系进一步复杂化。 (3)浓度淬灭：闪烁体在闪烁液中有一个最佳浓度，当浓度低于最佳浓度时计数效率随闪烁体 浓度增加而增加，当浓度超过最佳浓度时计数效率反会因闪烁体浓度增加而降低，这就是闪烁体的 浓度淬灭。 (4)化学淬灭：在荧光产生过程中，有许多物质能分散溶剂的激发能，或同闪烁剂分子竞争激 发能，有的与闪烁体分子形成复合体，这些作用最终都减少了荧光的量子产额导致计数效率降低。 (5)颜色淬灭：光通过介质总会或多或少地被吸收，吸收的多少取决于介质的性质和光的波长。 在闪烁液中，红色和黄色物质对荧光吸收严重，兰色物质吸收很小。荧光被有色物质吸收的现象在 液闪测量中被称为颜色淬灭。 (6)光子淬灭：从光子产生到其到达光阴极之前除经闪烁液和样品系统内有色物质的吸收外， 还会有一些因素影响光的传播。这些因素包括：测量瓶材料和厚度改变引起地光吸收和光畸变；测 量瓶表面的尘污和蒸汽冷凝；光电倍增管光阴极的不均匀性；闪烁液体积变化引起的脉冲改变；光 耦合系统带来的损失；溶液内折射系数的改变，瓶内反射的增加等，这些因素为计数效率带来的损 失统称为光子淬灭。 (7)电子学淬灭：这是指产生光电子以后的电子学过程所造成的计数效率的损失，但不包括那 些正常的电子学处理过程可能对计数效率的影响。电子学淬灭是指电子学元器件和线路在非正常工 作状态下为计数效率带来的损失。如光电倍增管的饱和；在高计数率下，由于符合分辨时间或其它 线路死时间的限制等所引起的计数率下降。 淬灭是存在于液闪测量中最主要的干扰因素。因此淬灭及其校正是液闪测量的重要问题之一。 其之所以重要是因为： (1)只有经过淬灭校正才能得到样品的放射性衰变率(Bq)值，这对于淬灭程度不同的样品间 ．414． 实验技术 比较是必不可少的。就是对那些淬灭成分相同的样品，淬灭的监测也是必要的，因为只有当起监测 作用的淬灭指示参数相同时，两个样品的计数率才能相互比较。 (2)由于淬灭校正的需求仪器的结构变得日益复杂。如果对淬灭校正各种方法不熟悉，就无法 弄清整个仪器的工作原理和各部分的功能，以致很难正确使用现代的液闪谱仪。 (3)随着仪器的发展和技术的进步，淬灭校正的方法不仅可以校正淬灭本身，而且由此衍生出 一些其他监测方法和自动化方法，如两