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维普资讯 第 3期 白宏光等 ：电子设备的可靠性统计试验方法研究 过程的确定。 施进行评审和效果验证。 4．7检测时机的确定 4．9 试验结果 在该电子设备可靠性鉴定试验开始前 ，已在常 经过近一个月的可靠性鉴定试验 ，该电子设备 温下进行全面的功能检查和性能测试 ，测得的功能 以责任故障次数小于 2的结果 ，通过可靠性鉴定试 和性能符合受试设备产品规范和可靠性试验大纲的 验 可靠性鉴定试验结束后，试验丁作组立即组织 要求 ．并作为与试验期间和试验结束时测得的性能 对这两套受试设备进行功能检查和性能测试 ，试验 进行比较的基准。 结果表明．符合该 电子设备可靠性试验大纲和产品 在该电子设备可靠性鉴定试验期间，按照可靠 规范的要求。 性试验大纲的规定 ．对受试设备进行功能和性能的 5 结束语 全程监控。每一试验循环期问，测量和记录受试设 备的性能和功能，以确定是否符合其产品规范和可 随着电子信息技术的迅猛发展，对电子设备的 靠性试验大纲的要求 ．并与试验前测得的性能数据 产品质量和可靠性指标要求越来越高 ．为了保证电 进行比较，以确定受试设备的性能变化趋势 。 子设备能够持续地满足合同或产品规范等要求 ，必 在该电子设备可靠性鉴定试验结束后 ．按照可 须结合电子设备 的具体实际情况 (选择好试验类 靠性试验大纲的规定 ，在常温下进行全面的功能和 型 、试验方案和试验方法)来制定电子设备的可靠 性能测试．以确定受试设备的功能和性能是否符合 性大纲 、质量保证大纲和可靠性试验大纲等质量控 其产品规范和可靠性试验大纲的要求 ，并将测得的 制文件 ，由可靠性工作组统一组织、监督和控制电 性能数据与试验前和试验期问测得的性能数据进行 子设备的可靠性试验 ．才能全面提高电子设备的可 比较 ，以确定受试设备的性能变化趋势 。 靠性 、可靠性试验水平和可靠性试验的管理能力。 4．8 故障分析、处理及纠正措施 参考文献 ： 【1】杨为 民．可靠性 ·维修性-保 障性总论 M【】．北京 ：国防 在该两套电子设备可靠性鉴定试验进行到第 6 I：业 出版社 ，1995：86—105． 个试验循环时 ，有一套受试设备出现故障 ，立即中 f2】卢昆祥．电子产品可靠性试验 IM】，天津 ：天津科技出 断试验。按照可靠性试验大纲和故障报告闭环系统 版社 ，1987：04—11． 的要求 。对故障进行分析．找到故障模式和发生故 f3】牟致忠 ，可靠性设计 【M】．北京 ：机械工业 出版社 ， 障的原因，钊对‘原因采取了纠正措施 ，并对纠正措 1993：l97-200． 一 一 j ·一 一 一 ·t 一一一 一 一 一 一 信 息 5动 态 厂 、 厂 、、 鳃 厂厂 美研制成全球最快计算机相当于10万台笔记本电脑 l豳l刚F={{} 、、 据报道 ，美国洛斯阿拉莫斯 国家实验 室和 IBM 的科学 IBM称 ．Roadrunner的运算能力相 当于 10万台能力最 家新近公布了世界L首台运算性能达到每秒 l()o0万亿次的