一种基于自选择状态折叠计数器BIST方案.pdfVIP

第六届中国测试学术会议论文集(CTC2010)·中国合肥·2010年7月 一种基于自选择状态的折叠计数器BIST方案 吴义成n 梁华国2’ 李松坤。黄正峰2’易茂祥2’ I)(合肥工业大学计算机与信息学院合肥230009) 2)(合肥工业大学电子科学与应用物理学院合肥230009) (clayyc@163．tom) 摘要提出了一种基于选择逻辑电路实现自选择折叠计数器状态转移的BIST方案，它是在基于折叠计数器的基础上，采用LFSR 编码折叠计数器种子，并通过设计的选择电路来控制折叠距离的选取，从而实现了确定的与原测试集相等的测试模式生成． 本 方案不仅实现了测试数据的压缩，而且成功避开了冗余的无用向量，以达到减少大量的测试时问的目的．实验结果证明，建议的 方案不仅具有较高的测试数据压缩率，而且能够非常有效地残少测试应用时间． 关键词内建自测试：折叠计数器：自选择电路：测试数据压缩：测试时间 中图法分类号TP391．7 ABISTschemebasedon stateof counters self-selectingfolding Wu Yi Yicheng”。LiangHuaguon。LiSongkunu,HuangZhengfeng”，andMaoxian92’ 1)(SchootofComputerandlnformation，HefeiUniversityofTechnology，Hefei230009) 2XSchoolofelectronicScienceAppliedPhysics，HefeiUniversityofTechnology，Hefei230009) Inthis BISTschemebasedon state of counters a circuitisresented． Abstract by selecting paper,a seifselectingskippingfolding using Onthebasisof isusedtoencodethescedsofthe a circuitisusedtocontrol counters,LFSR foldingcounters，whereselecting folding test scheme deterministictest thatthe setis tothe testseLThis solves patterngeneration，sogenerated completelyequal original setaswellas the ofthercdurKlant thatit reducesthe ofthedeterministictest test compression protestsgeneration paRems’solargely results thatitnot achievestestdata ratio，but reducestest applicationtime．Experimentalprove only high compressionefficiently time． application words data time circuit；test Key BIST；foldingcounters；self-selectingcompression；test