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第8琶学型 金属功能材料 V01.8Supp
2001年3月№山川删M“幽 ㈣∞m
BCN薄膜的制备及光电性能研究”
陈光华‘,2蔡让歧1 李英兰1 岳垒顺1 贺德衍2
(1兰州大学物理系兰州730()00;2北京工业大学材料学院北京100022)
摘要本文采用射频溅射技术,在硅和石墨衬底上制备出六方BCN薄膜,并应用IR、XRD、XPS
手段系统地研究了沉积参数对BcN膜生长及结构的影响。也研究了BCN膜的光学、电学、场电子
发射及内应力等性能。本文着重报道BCN薄膜的制备及其光、电性能。
关键词B堂避堕枣赙—囊;!萌亭巨一
中田分类号
文献标识码 一A 一@
弼I赢~登 ●
1前言 10c口n,靶材是烧结h—BN(纯度为99.9%)。
硼碳氨薄膜(BCN)是一种新型人工合成反应气体是cH4和Ar,反应室预真空4×
的超硬宽带隙材料,它具有许多优异的物理 10。3Pa,沉积气压为4Pa。
化学特性,有着极广泛的应用前景。立方相 衬底为单晶硅片和石英片,衬底与靶子
BCN的性质类似于金刚石和立方氮化硼,具 间距离为5cm,衬底用碘钨灯加热,衬底温度
有金刚石的硬度和c-BN的热稳定性。六方用热偶温度计测定。沉积过程中,通过改变
加在碘钨灯上的电压可以在100—600℃之间
相BcN(h-BCN)的性质介于石墨和六方氮化
硼之间,可掺成n.型和p_型,通过控制不同 控制衬底温度。Ar和cm的流量通过质量
BN和c的比例,可以制备出不同带隙的半导 流量计控制,总气体流量为208cl*n。沉积的
体薄膜。这种材料的高硬度,可能来源于B、 薄膜质量用红外谱(IR),X射线衍射谱
C、N三原子本身的原子半径小,使键长变短, (XRD),X射线光电子谱(xPs)等方法进行检
成键能量高。 测。膜厚用轮廓仪测量,沉积时问为2h,沉
我们采用射频溅射技术,在硅和石英衬 积速率通过膜厚和生长时间算得。
2.2射频电压对薄膜生长速率的影响
底上制备出六方BCN薄膜,并应用IB.、XRD、
XPS等手段系统地研究了沉积参数对BCN 在制备过程中,改变射频功率可以控制
膜生长及结构的影响。也研究了BCN膜的 薄膜的生长速率。功率的变化是通过改变射
频电压来实现的,结果如图1所示。从图中
光学、电学、场电子发射及内应力等性能。本
可以看出,在射频电压低于2400V时,随溅射
文着重报道六方相BCN薄膜的制备及其光、
电压的提高薄膜的生长速率加大。在24f)0V
电性能。
时达到最大为1.5ttm/h。随着射频电压的进
2薄膜制备
一步提高,生长速率呈现减小的趋势,可从等
2.1实验沉积参数
离子体形成和膜的生长过程给出定性解释。
h—BCN薄膜是在射频溅射系统中沉积
2.3射频电压对薄膜组分的影响
的。工作频率为13.56MHz,溅射靶直径为
·奉丈得弼瞢象和北京市自然科学基金的资助(哪《7∞口320啦013)。
增刊 陈光华等:BCN薄膜的制备及光电性能研究
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