微米级X－ray断层扫描技术在TiAl铸件无损检测中的应用.pdfVIP

第 卷 第 期 广西科技大学学报 26 2 Vol.26 No.2 2015 年 月 6 JOURNAL OF GUANGXI UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY June 2015 广 西科技大学学报 （ ） ： 文章编号 2095鄄7335 2015 02鄄0060鄄04 DOI 10.16375/j.cnki.cn45-1395/t.2015.02.011 微米级Ｘ－ｒａｙ 断层扫描技术在 ＴｉＡｌ 铸件无损检测中的应用 １ ２ 楼江燕 ，楼华山 （ 广西科技大学 汽车工程学院，广西 柳州 ； 柳州职业技术学院，广西 柳州 ） １. ５４５００６ ２. ５４５００６ 摘 要：研究采用 射线仪对 合金的铸造工艺进行了研究 通过逐级放大倍率法对 合金铸 ＭＵ２０００ Ｘ Ｔｉ６Ａｌ４Ｖ . Ｔｉ６Ａｌ４Ｖ 件的内部进行微观检测， 射线断层成像图片表明：铸件内部大部分区域呈现灰色，该灰色部位代表着铸件致密的结 Ｘ 构，证明浇注工艺及型壳结构设计的合理性；同时，还观察到铸件内部存在气孔、缩孔和熔接痕缺陷 经分析认为：浇注 . 温度、型壳预热温度偏低是导致产生气孔、缩孔缺陷的主要原因，而熔接痕缺陷则与浇注系统设计的不合理相关. 关键词：微米级 射线断层检测；断层成像照片；图像增强器；铸件 －Ｘ 中图分类号： 文献标志码： ＴＨ１４ Ａ ０ 引言 ［ ］ １ 计算机断层扫描技术不断开发和应用在各个领域 如工业、考古学、生命科学或地质学 在工业领域， . . 尤其在无损检测方面应用得特别普遍航天用 合金管接头主要采用铸造技术成型 由于 铸件特有 . ＴｉＡｌ . ＴｉＡｌ 的超硬性能，常规机