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连接器与开关第五届学术会议论文集 电接触不良对误码的影响 北京邮电大学 孙百生章继高 摘要 本文以失效触点分析为基础指出1一些可能导致电接触故障的 因素，根据电接触理论．结合高频传输的特点建立j电触点的物理模型，并 以光通信系统中数字配线架上的同轴连接器为侧，从理论上分析探讨j电 触点故障导致误码率增高直至传输中断的可能性。 关键词电接触误码率连接器 1 引 言 近三十年来，我国的信息科学飞速发展，光通信与计算机网在近年来发展得更是迅猛。但 有些数字通信网工作一段时间后误码率越来越高。通过专家们的调查研究发现，引起误码率增 高的一个重要原因之一是系统中的连接器接触不良。这种电接触不良引起误码率高的特点是 不稳定，时好时坏，再现性差。查找困难。进一步研究表明，造成接触不良的因素很多，如触点材 料、弹性、接触压力、接触表面粗糙度、硬度、表面耐瞻性、表面镀金层质量、微动瞻损、插拔磨损 等及环境条件(腐蚀气体，灰尘．温度和湿度等)；还有如结构设计不合理，加工误差以及由于接 触表面的粗糙不平可能造成的局部放电等。但这些因素怎样影响连接器的质量．其造成电接触 不良的机理是什么却不很清楚。特别是接触不良怎样影响传输参数从而导致误码率增高直至 传输中断更是不清楚。为保证系统可靠就必须保证电接触可靠。而为保证电接触可靠就必须 了解各种因素对其影响及对信号传输可能产生的影响。本文在下述三个方面作了初步的探讨： (1)环境等因素对电接触的影响 (2)高频(高速率数字)电路中非理想电触点(较大视在接触面)模型 (3)电触点不良与数字信号传输中的误码的关系。 2环境等因素对电接触的影响 影响电接触可靠性的因素很多，其中影响较大的就是环境。而在诸多的环境影响因素中较 突出的是大气腐蚀与灰尘。通过分析从某通信站现场收集来的失效连接器插针和插孔．发现在 接触表面存在大量腐蚀物和灰尘。用x射线能谱仪(XES)分析腐蚀物成份，结果如表1和表2 所示。从表中可以看到在镀金表面有铜，镍，硫和氯等元素。这表明腐蚀物可能是镍和铜的硫 化物和硫酸物，氯化物和氧化物(因氧的原子序数小于ll故表上没有)。这表明尽管接触表面 镀有金层，但如镀金质量不好(有微孔等)则基底材料同样可能受到腐蚀。而腐蚀生成物将覆盖 到接触表面上，从而影响接触性能。同时从表2中还发现有典型的尘土成份如钙，钾等。这表 明接触表面可能有尘土。通过长期暴露实验及对实际失效样品的分析研究，结果表明腐蚀和尘 土等是引起电接触失效的重要原因之一。 35 连接器与开关第五届学术会议论文集 see．) 表1插针表面元素成分(E。一20KV，t=100 元素 取样1(a／o) 取样2(a／o) Cu—K 16．93 10．10 Au—L 35．17 19．86 Ni—K 18．95 53．6l S—K 24．01 11．12 Zn—K 4．94 5．3l sec．) 表2插孔内表面的元素成分(Eo一20KV．t一100 元素 取样l(a／o) 取样2(a／