阵列扫描探针在电弧等离子体的研究中的应用.pdfVIP

阵列扫描探针在电弧等离子体研究中的应用 曹金祥王洁霞+董永辉’杨洪波张嘉祥+ 中国科学技术大学近代物理系合肥230026 北京7201信箱 北京100074+ 【摘要】本文介绍了一种用于测量电弧等离子体参数的多道扫描探针系统．使用该系统 研究了电弧等离子体特性．实时给出了流场电子温度和密度的空间分布．实验表明，该电弧 等离子体流场的电子温度分布基本是均匀的：电子密度分布与流场结构紧密相关．实验表 l埘，随着电弧功率的变化和流场焓值的不同，电子密度也随之变化． 一、前 言 众所周知，随着等离子体应用技术的发展，电弧等离子体在工业，国防，航天等领域得 到了广泛的应用p,2,31．因此电弧等离子体本身的特性，特别是不同工作物质和不同电弧室结 构所产生的等离子体，就表现出不同的特性．本文介绍了一种用于研究大功率电弧等离子体 特性的阵列扫描电探针测量系统，使用该系统，进行了电弧流场多截面等离子体参数的测 旦，获取了很有实际应用的实验结果． 二、测量系统 图1是多道扫描探针几何结构及实验安排示意图．探针被绝缘后固定在探针支架上，支架 呵·次安装10根探针，故在径向可同时获得10个测量点的数据．探针的间距可任意调整，本 实验选取其间隔为15mm，探针裸露在流场中的长径比为40．探针与支架采用高压水冷．支架 安装在一个可以沿电弧等离子体流场轴线方向水平运动的导轨上，根据需要由计算机控制探 针系统运动并可随时进入或退出流场． 多路探针电信号，由多道数据采集存储，然后送计算机系统进行处理．由显示器显示出 全流场及不同断面的等离子体参数分布． 三、实验结果与讨论 实事上，对于高气压电弧产生的这种热电离等离子体，碰撞效应是不能忽略的．因此 且较完整的探针理论，对探针数据进行相应的处理． 实验是在一个电弧发生器上进行的．其工作参数：电弧室的压力为08~2．4a锄，放电电压 子体流速6--10马赫．按实验要求探针支架上安装8根探针． 129 图2足在电弧电流是550A，电压1600V，气体焓值约为540cal／g的实验条件下，在6个采样 截面得到的·组流场电子温度Z分布．r坐标为径向距离，X坐标为采样截面距电弧喷口端面 的距离．由图可见，位置3的正(o．扣l。v)较高，并在径向表现出一定的周期性结构．这说明电 1--4)．4 弧流场在喷口未达到均匀．在远离喷口的位置上，正(0 ev)变化较小，且表现出流场有 较均匀的分布． 图3是在相同实验条件下得到的电子密度Ⅳ．的三维分布图．其中x坐标是采样截面距电 弧喷口端面的距离．我们可以看到，Ⅳ。l缱r的增加而单调衰减．实验中发现Ⅳ。的径向分布在 近轴线处有一凹降区，它的径向宽度和轴向长度与流场的速度、焓值以及等离子体参数有 火．轴线l：Ⅳ．的最人值约为4×10”Cm‘，最低约为1×10”Cnl一．这I』我们在此实验条P{： 下，理论上估算的电子密度值在量级上是一致的． 2．08eV范围 示，同图2实验类似，截面3处的Z(1～1．6ev)较高．在4．8采样截面Z变化是在0 内，这反映出流场沿径向和轴向Z变化是较均匀的．由实验数据我们还发现，除1、8探针外 流场其它各点Z基本是均匀的．从另一方面也反映出探针测量系统的灵敏度是较高的． 图5是本次实验Ⅳ。的三维分布．在电弧流场轴线上Ⅳ。最大值约为10×10”cm～，最低 约为l一2×10”cm-3．我们观测到各探针Ⅳ．变化在扫描过程中的变化是在3．4倍范围之内， JV．的分布与图3基本相同．尤其是近轴线处的凹降区、平台区、指数衰减区、远场区的Ⅳ。都 有十分明显增加．这说明其等离子体密度分布形式是该电弧等离子体流场的特有模式． 两次实验结果的比较还可以发现，随着流场焓值的提高(从540860eal／g)，t增加一倍． 从另一方面也说明表征一定体积内，气体能量的物理量一焓值是影响该电弧等离子体性质的