非晶态镍合金渗氢后的正电子寿命谱特征.pdfVIP

维普资讯 第j。卷第1期 腐蚀科学与防护技术 v。1．1oN。．1 1998年 1月 CORROSlON SCIENCE AND PROTECTION TECHNOLOGY Jan．1998 三一c}| 非晶态镍合金渗氢后的正电子寿命谱特征 黄卫东 左 禹魏 龙 王文华 — — - — 一 — — —一 V 北【京化工大学应用化学系北京100029) ．，1＼『 ～ (1中国科学院高能物理研究所 中国科学 院核分析技术开放实验室 北京 l00080) 摘 要 测量 非 晶态 NiCrFeSiB合金电化学渗氢前后 的正电子寿命谱 ，探索氢与非晶态结构中 的空位型缺陷的相互作用．合金中主要存在 自由体积和空位 团两种类型的缺 陷，低 电流渗氢对缺 陷结构无明显影响．高电流渗氧导致空位团型缺陷浓度升高 ．但不稳定 ，当氢逸出后又会分解 ，合 金结构恢 复到稳定状态． 关键词 非品态俞金 ．氧．正电子寿命 一 ● _ _ _ — 一 耄 ^ — — ， — — 一 学科分类号 TGl72．83 ， 一 般认为。非品态合金中不存在线型的结构缺陷，只有空位或空位团型缺陷，氢与这类 缺陷的相互作用对合金的氢脆行为和贮氢特性有着显著的影响．Kirchheim等rJ的研究表明， 氢在非晶态结构中主要位于问隙空问．其位能呈连续的正态分布，但也有少量氢位于较深的 陷井中，可能是较大的空间．对于非晶态合金中的缺陷结构，迄今了解还很少，搞清氢与缺 陷的作用。一方面有助于理解非晶态合金的氢脆行为和贮氢性质，另一方面也可加深对非晶 态结构本身的认识．本文通过正电子湮没技术测量了非晶态 NiCrFeSiB合金充氢前后的正电 子寿命分布，探索氧与缺陷之间的相互作用． 1实验方法 试验材料是用快速冷却法制备的非晶态合金薄带 ，宽 25mm，厚 50ffm．材料制成 10 ITIITI× 10mm尺寸的试片。表面用 900。SiC水砂纸磨光去脂 。在 0．1mol／iH2SO +10mg／ I，As()溶液中进行阴极极化充氧．采用了两种不同的充氢条件 ：(1)电流5A／m：充氢 3O mill；(2)电流200A／m!充氢 l5n 充氧结束后。立即将试样放入液氮中保存以防氢逸出， 斤尽快进行 电r淫没分析． 测量在快慢复合正电 j寿命谱仪 I进行，仪器分辩率为 270ps．由于试片很薄，采用 5 片相州允氧条件的试片叠合组成测试样6。 Na放射源夹在两组试片中间，置于双BaF!探 L-中进行寿命潜删 ．每个寿命谱连续测 3h，累计计数 6×10，用PAl、FIT一88程序作三 辱命组分数据分析．试片充氢以后在室温下氢会逐渐逸出．采用了测量试样弯曲延性的方法 来考察氰的逸 ：速度 ，i式片制成 30mm×3ITIIII的长条形 ，充氢后弯曲成 U形 。放在一个 国家 自然科学 金和中闰科学院l葭分析技 术开放实验室资助 收刮初稿 ：1997一n 18 维普资讯 1期 黄卫东等 ：非晶态镶合金渗氢后的正电f寿命谱特征 特制夹具的两个平面之间，令两平面逐渐接近直至试片断裂，这时的断裂应变由下式计算 ￡一^／(2r--h) 式 中r是断裂时的试片弯曲半径．^为试片厚度．所有试验均在室温下进行． 2结果与讨论