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- 2015-08-06 发布于安徽
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第 26 卷 第 1 期 半 导 体 学 报 Vol. 26 No. 1
2005 年 1 月 CHINESE JOURNAL OF SEMICONDUCTORS Jan. ,2005
非晶硅碳( aSiC ∶H) 薄膜光学
常数的透射谱表征
胡志华1 ,2 廖显伯1
( 1 中国科学院半导体研究所凝聚态物理中心 表面物理国家重点实验室, 北京 100083)
(2 云南师范大学太阳能研究所 , 昆明 650092)
摘要 : 报道了一种用透射谱数据分析法计算非晶硅碳薄膜的厚度、折射率、吸收系数和光学带隙等光学常数的方
法和程序. 这一方法引用有效谐振子模型理论的折射率色散关系 ,所有公式均
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