MMIC在片测试探头的研究与设计.pdfVIP

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  • 2015-08-10 发布于安徽
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阶薹肚唧唰甜m薹n叻州巾.吩“ 其中缈n(i。)是导体表面&”的自由电荷密度:Q西“(F’)是介质表面舶”的束缚电荷密度:。 和m是导体和介质边界的序号。N、M分别是导体和介质边界的数Ej。杯量G“(i,,和矢量 Ge(i.i‘)分别是电势和场格林函数 n(R) (3) 6“妒,)一i三1 G妒)=去 (4) 只是从源点到场点的矢量距离.R=,一, 运用矩量方法.求解联立积分方程,可以解出传输线的各参量。在共面波导的情况下, N=3.M=I。计算出当介质片具有一定的厚度h,保持共面线中心导带D及缝宽s不变时, 其特性阻抗z0随接地导体带宽度w的变化.见图2。当其它参量不变时.随着w的增大. z0呈减小趋势。因而在实际设计时.需同时考虑D、S、w的变化以保证z(1为5IJ欧姆。图 3中显示了共面_i碇导的两个端面的不同尺寸。 ■~、二::_. 50r~“~’~*一…*

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