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第26卷，第7期 光谱学与光谱分析 2OO and 6年7月 SpectroscopyS疆)ectralAnalysis July，2006 MALT—CLS方法在大气痕量气体FTIR定量分析中的应用 高闽光，刘文清，张天舒，刘建国，陆亦怀，徐 亮，朱 军 中国科学院环境光学与技术重点实验室，中国科学院安徽光学精密机械研究所，安徽合肥230031 摘要对MAI．T-CLS方法在大气痕量气体FT取定量分析中的应用进行了研究，介绍了一些定量分析的 实验，如长光程怀特池、机载被动遥测。该方法的特点是其校准光谱是采用MAI丁程序通过计算HITRAN 数据库中吸收线参数、环境参数和仪器参数丙得到。它尤其适用于无法采用样品池来产生校准光谱的长光 程开放光路和以太阳、天空、地物为背景的被动FTm测量。 主题词 MAI．rCLS；FT球；定量分析 中图分类号：0657．3文献标识码：A 文章编号：1000—0593(2006)07—1213一04 引 言 1理论 近年来随着傅里叶变换红外光谱(FTIR)技术的不断发 人工合成校准光谱的计算基于吸收线参数，最通用的线 展和完善，其在大气痕量气体测量方面的应用显著增加[1]。 参数设置是HITRAN，它包括了37种大气气体各自的线参 MAI．T-cLS定量分析方法，具有快速、可再生、以及灵活方数。设分子i的吸收线志在波数v对吸收的贡献为 便等特点，且准确性较好[2]。尤其在无法采用样品池来产生 魈(v)=甜(v)·啦 (1) 校准光谱的长光程开放光路和以太阳、天空、地物为背景的 式中砖是其在波数v的吸收系数或吸收截面；m是组分i 被动FTIR光谱测量情况下，该方法具有很大的优越性，因的总量，等于路经与浓度的乘积。通常a}(v)单位为cm2· 为它的校准光谱是由吸收线参数数据库(HITRAN)[3“1计算 得到，而不是通过实际光谱仪测量的。合成的校准光谱是采 实线型卷积得到。有两种主要展宽机制对线型起作用。多普 t瑚slIlission)L50程序计勒展宽源于随机的分子运动而导致高斯线型 用MALT(multipleatnlosphericlayer ， 、2 算的，在其计算中包括了环境(气压、温度、路径长度等)和 (2) 知(p)一jFeXpf一型i芝1 仪器(分辨率、线型、波长漂移等)的影响，因此计算的光谱 非常接近于实测光谱。MAI，T-CIS的具体分析步骤为：首先 ∞=詈俘 ㈣ 由MAl月根据预设气体浓度和各种参数产生用于校准的人 工合成吸收谱，第二，这套“人工合成”校准光谱用作CLS 式中∞是高斯半宽度，优是分子质量。 压力展宽是由于碰撞扰动分子能级导致洛仑兹线型贡献 (classicleast．squares)[6]定量分析的基础，用测量光谱与人 一 ／一 工合成的校准光谱进行拟合，得到气体组分浓度。拟合后的 ^(V)2石专笋‰＼V一如，T乱 ‘4) 残差谱可用于检查拟合的缺陷以及测量谱与计算谱之间系统 式中乳是洛仑兹半宽度，与总气压成比例。HITRAN 误差的鉴别分析。本文对MAI卫CLS方法在大气痕量气体 中列出了每一条吸收线的在一个大气压下的洛