04X射线能谱显微成分分析.docVIP

实验四. X射线能谱显微成分分析 学时：2 要求：必做 类型：演示 类别：专业基础 一、实验目的 通过演示实验，使学生了解X射线能谱仪（简称能谱仪，英文为：Energy Dispersive Spectrometer，缩写为EDS）的构造、工作原理、分析方法和应用。 二、实验原理 能谱仪利用电子束与样品作用，在一个有限深度和侧向扩展的微区体积内，激发产生X射线讯号，它们的波长（或能量）和强度将是表征该微区内所含元素及浓度的重要信息。能谱仪所能分析的元素可从4Be到92U，但原子序数低于12的轻元素或超轻元素的测定，需要某些特殊的条件和技术。微区成分的定量分析，即把某元素的特征X射线强度换算成百分浓度。 能谱仪工作的基本原理为： 由试样出射的具有各种能量的X光子，相继经Be窗射入Si(Li)内，在1区产生电子空穴对.每产生一对电子空穴对，要消耗掉X光子3.8eV能量。因此每一个能量为E的入射光子产生的电子-空穴对数目N=E/3.8，入射X光子的能量越高，N就越大。利用加在晶体两端的偏压收集电子空穴对，经前置放大转换成电流脉冲，电流脉冲的高度取决于N的大小，电流脉冲经主放大器转换成电压脉冲进入多道脉冲高度分析器。脉冲高度分析器按高度把脉冲分类并进行记数，这样就可以描出一张特征X射线按能量大小分布的图谱。 三、实验仪器设备及流程 能谱仪的基本结构: 锂漂移硅Si(Li)探测器, 数字脉冲信号处理器, 模数转换器,多道分析器及计算机。 四、实验操作步骤 1、试样准备：与SEM相同，然后放入SEM样品室中。 2、分析过程：打开SEM高压，调整SEM以观察样品的表面形貌，选择待分析的区域，增加SEM的电子束束斑到能谱仪具有足够的X射线的强度（大于500cps），调整SEM的焦距，观察到清晰的图像，然后进行选区或点，用能谱仪采集图谱，然后进行定性和定量分析，还可进行元素的线、面的成分分布分析。 五、数据处理 能谱仪所能分析的元素可从4Be到92U,但原子序数低于12的轻元素或超轻元素的测定需要某些特殊的条件和技术,利用能谱仪进行微区成分的定量分析,即把元素成分经过一系列校正定量计算出来。 化学成分分析 扫描电镜的能谱分析可以把样品的成分和形貌、乃至结构结合在一起进行分析。既可对在较大范围区域内进行组分分析，也可对微小区域进行成分分析，最小分析区取决于X射线的空间分辨率（X射线在样品中的出射区域的大小）。 元素的X射线面分布 对于不同元素在试样中的分布以及它们含量的百分浓度，可以通过采集X射线得到面分布图（X-Ray Mapping）。 （3）元素的X射线线分布 在面分布图上沿着指定的直线段提取出的X射线信号的强度分布曲线，称为X射线线扫描（X-Ray Linescan），可以获得感兴趣元素的X射线强度沿这条线的分布图。 Accelerating Voltage: 20 KeV Take Off Angle: 37.4694( Live Time: 55.42 seconds Dead Time: 2.813 Quantitative Analysis Filter Fit Method Chi-sqd = 1.01 Livetime = 55.4 Sec. Standardless Analysis Element Relative Error Net Error k-ratio (1-Sigma) Counts (1-Sigma) Al-K 0.00763 +/- 0.00060 638 +/- 50 Cr-K 0.99237 +/- 0.00823 29659 +/- 246 Adjustment Factors K L M Z-Balance: 0.00000 0.00000 0.00000 Shell: 1.00000 1.00000 1.00000 PROZA Correction Acc.Volt.= 20 kV Take-off Angle=37.47 deg Number of Iterations = 3 Element k-ratio ZAF Atom % Element Wt % Err. Compound Compound No. of (calc.) Wt % (1-Sigma