CMOS成像系统亚像元定位精度研究.pdfVIP

第38卷第7期 光电工程 Vbl-38．NO．7 2011年 7月 Opto—ElectronicEngineering July,2011 文章编号：1003—501X(2011)07—0069—05 CMOS成像系统亚像元定位精度研究 曾桂英，解 源 (集美大学 信息工程学院，福建 厦门 361021) 摘要：本文构建了基 ICMOS~像传感器的高精度定位系统，并且研究光源、被测 目标、测量系统与亚像元定位算 法等因素对定位精度的影响。研究结果表明：光源与测量环境的稳定性是高精度测量的必要前提与关键因素；带 阈值 的质心算法对系统白噪声抑制能力基本相 同，但对具有一定规律缓慢变化的干扰信手抗干扰能力不同，且带 活动阈值的质心算法抗干扰能力最强；根据被测目标与实际误差分布规律选择合适的算法处理，是工程应用中实 现高精度亚像元定位的有效保证。 关键词：CMOS~[像传感器；亚像元定位；定位精度；误差分析 中图分类号：TP75 文献标志码：A doi：10．3969／j．issn．1003—501X．2011．07．013 Sub—pixelLocatingAccuracyforaCM OSImagingSystem 。 ZENG Gui-ying，XIEYuan (SchoolofinformationEngineering，JimeiUniveristy，Xiamen361021，FujianProvince，China) Abstract：Tostudytheinfluenceofthelightsource，object，measuringsystemandsubpixellocationalgorithm onthe sub—pixellocatingaccuracy,aCMOSimagingsystem isdesignedforexperimentanddatatreatment．Theresultsshow thatthestabilityofthesourceandthemeasuringsurroundingshavenotableeffectonthehighaccuracyofmeasurements． Theimprovedcentroidalgorithm withathresholdhasthesameeffectondenoisebutcanreducetheinterferencesignal dramatically and especiallywithadynamicthresholdwhiletheinterferencesignalhastheproperty ofslightchange． Choosinganalgorithmappropriatelyaccordingtotherealobjectandtheerrordistributionisthekeytogainthehigh precisionsubpixellocationinengineeringapplication． Keywords： CMOSimagesensor；sub—pixelorientation；locatingaccuracy；erroranalysis 0 引 言 CMOS图像传感器由于其价格、功耗、图像质量等方面上的优势，正逐渐取代 CCD 图像传感器，并 在相关电子产品的生产中得到了广泛的应用_lJ。但受现行工艺及技术的限制，面阵CCD／CMOS感光阵列像 元分辨率及帧速率要远低于线阵CCD。对于高速、宽视场、高精度测量定位系统，采用 CMOS图像传感 器，首先必须解决测量视场、测量精度和测量速度相互制约，三项性能很难同时满足系统测量要求的问题。 在单个像元分辨率受到限制的情况下，采用亚像元定位方法可以提高测量精度。亚像素定位的实