CMOS摄像模组缺陷的自动检测系统研究.pdfVIP

第39卷第3期 光 电工程 Vbl-39．No．3 2012年 3月 Opto—ElectronicEngineering March 2012 文章编号：1003—501X(2012)03—0052—05 CMOS摄像模组缺陷的自动检测系统研究 张 戈，李定珍 (南阳理工学院 电子与电气工程系，河南 南阳 473004) 摘要：CMOS摄像模组缺陷检测要求系统能够检测光学镜头聚焦状况以及在摄像模组生产过程中产生的各种缺陷， 包括：亮点、暗点、线缺陷、色差和暗斑等。为实现检测 目的，系统使用CPLD通过帧捕捉把图像传输至计算机 进行处理，运用多种图像处理算法来分析获取的不同图像，以检测出模组的相应缺陷。实验结果证明该系统在生 产线上能够可靠运行，实现高速度高精度的缺陷检测。 关键词：摄像模组；自动检测；图像处理算法；缺陷；镜头聚焦 中图分类号：TP391 文献标志码：A doi：10．3969／j．issn．1003—501X．2012．03．010 AnAutomaticOpticalDetectingSystem for InspectionofCM OSCompactCameraM odule ZHANG Ge，LIDing—zhen (NanyangInstituteofTechnology，Nanyang473004，HenanProvince，China) Abstract：De~ctinspectionsofCompactCameraModule(CCM)aremademainlybyhumaninspectors．Forimproving theefficiencyandprecision，it’Sverynecessarytodevelopanautomaticinspectionsystem forCCM ．Itcanchecklens focusstatusand inspectdefectsincluding white defect，black de~ct，linedefect，colordefect，and dim de~ctin manufacturingprocess．Ithasacomplexprogrammablelogicdevice，andthecameralinkandtheframegrabberareused totransferandstoreimagestoPC．Variousimageprocessingalgorithmsaredevelopedtoanalyzethecapturedimage from eachtestchartandtofind and verify thedefectsofcameramodules．Theexperimentalresultsshow thatthe proposed system is able to reliably inspectvarioustypesofdefectswith high precision and high speed in real manufacturingcondition． Keywords：compactcameramodule；automaticinspection；imageprocessingalgorithm ；defect；lensfocus 0 引 言 摄像模组(CCM)ff泛应用于手机、网络摄像头、笔记本 电脑等设备。模组采用的图像传感器主要为 CMOS型，在系统集成度、功耗、相同成像效果的电路尺寸上相比CCD具有无可比拟的优势，由此带来 产品在尺寸、易用性和价格上的优势。 随着市场需求的增长，要求在保证优 良率的前提下提高CMOS模组LJ的生产效率。缺陷 自动检测系统 可以大大缩短检测时间，提高生产效率。系统