结构光投影测量中物体不连续处误差分析.pdfVIP

第38卷第7期 光电工程 V0l1_38．No．7 2011年 7月 Opto—ElectronicEngineering July,2011 文章编号：1003—501X(2011)07—0074—07 结构光投影测量中物体不连续处误差分析 陈 锋 1,2，苏显渝 ，向立群 (1．四川大学 光电系，成都 610064} 2．成都信息工程学院 光电技术学院，成都 610225) 摘要：本文分析了基于结构光投影的不连续物体测量中CCD采样引入的相位误差，并提出了鉴别错误相位点的 方法。在物体表面不连续处，由于 CCD采样的影响相位测量将出现较大的误差。本丈从相位、高度和等效波长 的关系出发，将相位看作矢量辐角，发现在物体表面不连续区域处 CCD 的采样使得相位测量值与等效波长呈非 线性关系，从而降低了测量精度 ，甚至出现错误测量结果。本文引入时间相位展开(TPU)用来鉴别这些错误相位。 文中给出了理论分析和实验，结果证明分析的正确性和鉴别方法的可行性，可以为减小 CCD采样导致的局部误 差提供分析依据。 关键词：采样；时间相位展开；等效波长；最小二乘拟合 中图分类号：TN247 文献标志码：A doi：10．3969／j．issn．1003．501X．2011．07．014 AnalysisofPhaseErroratDiscontinuitiesintheM easurement BasedonStructuredLightProjection CHEN Feng一，SU Xian．yul XIANG Li．qun ， (I．DepartmentofOpto—electronics，SichuanUniversity，Chengdu610064，China； 2．CollegeofOptoellectronicTechnology，ChengduUniversiytofinformationTechnoloyg，Chengdu610225，China) Abstract：Boththeanalysisofphaseerrorswhichoccurattheabruptdiscontinuitiesintheprofilometrybasedonfringe projectionandtheidentificationmethodarepresentedinthispaper．ThesamplingeffectofCCDwillcauseadilutionof accuracy,especiallyatabruptdiscontinuitiesontheobjectsurface．Weanalyzetherelationshipamongthephase，the heightandtheequivalentwavelength．Byviewingthephaseastheargumentofavector,wefindoutthat，CCD sampling introduceserrorintothemeasurement，andthephaseisnonlineartotheequivalentwavelength．ThereforeTemporalPhase Unwrapping(TPU)isintroducedintothemeasurementtoidentifytheaburptdiscontinuities．Computersimulationsand practicalexperimentvalidatethefeasibilityofthismetho