近场光镊与AFM探针复合的光阱力分析.pdfVIP

第38卷第2期 光 电工程 Vol1．38．No．2 2011年2月 Opto—ElectronicEngineering Feb．2011 文章编号 ：1003—501X(2011)02—0001—08 近场光镊与AFM 探针复合的光阱力分析 刘炳辉 一，杨立军 一，王 扬2，袁 巨龙 (1．浙江工业大学 特种装备制造与先进加工技术教育部重点实验室，杭州 310032； 2．哈尔滨工业大学 机 电工程学院，哈尔滨 150001) 摘要：本文针对纳米材料的纳米操作，提出了一种复合激光近场光锻与 AFM 探针进行纳米操作的方法，并基于 动量守恒原理，采用三维时域有限差分方法建立 了该方案中激光近场对纳米微粒的作用力模型，分析了各轴向光 阱力的分布情况，讨论了两探针间距离、针尖材料的电导率、入射平面光场的偏振方向、入射角和波长等参数对 近场光阱力的影响。结果表明：位于耦合光场中特定位置的微粒可被捕获至固定位置，所需的辅获功率大大低于 传统光镊所需的捕获功率；为实现稳定的纳米操作，光纤探针与 ArM 探针的距离应保持在孔径范围内，两探针 的相互位置应保持成垂直关系，同时应选用短波长的捕获激光，并保持激光偏振方向与 AFM 探针轴线的匹配。 本文设计的近场光镊与ArM探针相复合的纳米操作系统，能大大扩宽近场光镊和AFM 系统在纳米操作上的应用 范 围 关键词：三维时域有限差分法；光阱力；近场光镊；AFM探针 中图分类号：TG66 文献标志码 ：A d0i：10．3969j／．issn．1003—501X．2011．02．001 AnalysisofTrappingForcesCombiningNear-field OpticalTweezerswithAFM Probe LIUBing—hui ，YANGLi-jun ，WANGYang，YUANJu—long (1．MOEKeyLaboratoryofMechanicalManufactureandAutomation， ZhejiangUniversityofTechnology，Hangzhou310032，China； 2．SchoolofMechatronicsEngineering，HarbinInstituteofTechnology，Harbin150001，China) Abstract：Recently,interestinnano—manipulationusingtheevanescentwavegeneratedbynear-fieldopticalprobeshas beengrowing．Thepossibilityofusingthemetallictipofanatomicforcemicroscopeilluminatedbyevanescentwave from afiberprobetocreateopticaltweezersforselectivemanipulationofnano—particlesisexplored ． A generalizationof the conservation law formomentum using three—dimensionalfinite difference time domain method forrigorous calculationsisappliedtoanalyzenear-fieldt