不同偏置条件的10位模数转换器的电离辐射效应.pdfVIP

设计者提供理论依据和数据支持。 2．实验样品和方法 实验样品为同一批次的10位双极逐次逼近式模数转换AD571。其内部由比较器、逐次逼近寄存器 (SAR)、内部电压参考源、数模转换器(DAC)和输出缓冲器等多个功能单元组成。辐照实验在中国科学 (s0。在辐照过程中，被测器件均置于Pb／A1屏蔽盒内，以屏蔽低能散射光子对待测器件的影响，确保实 验数据的可靠性。辐照偏置条件分为三组：第一组为加电偏置：按器件的要求给模拟和数字部分接5V电压 使之处于工作状态，数字输出端悬空；第二组为零偏置：使器件所有管脚接地。第三组为加电阻偏置：在 第一组的实验条件下，在输出端外接100KQ电阻然后接地。一、三组均加上器件所需的时钟脉冲信号。 辐照完成后保持与辐照相同的偏置进行室温退火实验。 试在器件辐照及退火后的20分钟之内完成。 3．实验结果 照实验。研究结果表明，模数转换器的多个参数都表现出辐照敏感特性。图l是ADC的线性误差(INL) 随辐照总剂量及室温退火的关系。线性误差(INL)反映的是实际转换特性曲线与最佳拟合直线间的最大 偏差聊。由图l(a)可以看出，随着辐照总剂量的增加，INL在不同辐照偏置下的变化趋势有很大差异：在 在总剂量达2．5xllY Gy(Si)左右时参数才开始变化，但变化幅度较小，器件还能正常工作。而在加电偏置 当辐照总剂量达3x103 Gy(Si)时，INL呈现饱和趋势。此时器件功能失效。也可以看出，三种偏置下，加 电偏置辐照损伤最大、电阻偏置其次、零偏最小。图l(b)辐照完成以后，保持与辐照偏置相同的室温退火 表明：随着室温退火时间的增加，在零偏置情况下，保持与辐照时一样参数没有明显变化；在加电和电阻 偏置条件下，样品均出现明显的恢复。在经过很短的室温退火后，INL值基本恢复至初始值，表现出明显 的损伤恢复趋势。 time／h Dose／Gy(Si) Annealing ‘a) (b) 图l ADC‘线性误差INL IZlt辐照总剂量(a)及室温退火∞的变化 ofA／D versustotal timeat10001 INL converter annealing Fig．1，rIle dose(a)and temperature∞ 换特性曲线的实际斜率与理想斜率之间的最大偏差。E。辐照响应规律基本与INL相似，在零偏置时，E。 基本上没有变化，器件功能参数正常。在加电阻偏置情况下，累积剂量达2x103 Cy(Si)tt；]，E。才发生变化， 但是变化幅度很小。而在加点偏置条件下，ADC增益误差E。随着随着累计剂量的增加，在总剂量达 2．5x103Gy(Si)左右时达到最大值，并且出现饱和趋势。室温退火过程与图l彻变化趋势基本一致。 图2 ADC增益误差E。随辐照总剂量(a)及室温退火㈣的变化 TheofA／Dconvertervcrst塔total timeatroom Fig．2 Es dose(a)andannealing temperature彻 code)随总剂量及室温退火的变化规律。失码是指模拟输入电压在满量程 图3表示ADC失码(Miss 范围变化时，输出端有一个以上的对应数码不出现的现象。随着辐照总剂量的累积，出现的失码数量更能 量的增加，电阻偏置条件下的失码数也在增大，但是变化很小。而在零偏置情况下，没有失码产生，器件 功能正常。图3(b)室温退火表明，经过长达1800小时的室温退火，零偏条件下基本上没明显变化；电阻 偏置和加电偏置条件的失码数值很快就恢复至初始值。并且不再变化，即无明显的后损伤现象。 图3 ADC失码Miss