基于DSP的CCD精密测量系统的设计.pdfVIP

维普资讯 第 22卷第6期 徐 州 工 程 学 院 学 报 2007年 6月 Vo1．22 No．6 JournalofXuzhou InstituteofTechnology JUN．2007 基于DSP的CCD精密测量系统的设计 贾旭光 (徐 州市计量测试技术研究所， 江苏 徐 州 221000) 【摘 要1 TMS320LF2407ADSP芯片设计 的精密测量系统可 以精确地测量出 目标的微小 变化，故而分析CCD精密测量系统中的信号采集和处理的工作原理、系统硬件设计及软件设计．研 究结果表明DSP芯片应用 CCD精密测量系统 中，能够有效提高测量系统的 自动化程度及测量系 统的精度． 【关键词】 精密测量；电荷耦合器件 (CCD)；数字信号处理器 (DSP)；A／D转换器 【中图分类号1 TP399 【文献标识码】A 【文章编号】1673—0704(2007)06—0067—04 电荷耦合器件 CCD(charged--coupleddevices)是一种半导体光学成像器件．由于它的体积小、像元尺寸 小、几何精度高、抗 电磁干扰、无滞后及易于微机接 口等优点，近来 已在工件尺寸测量、图像传真、摄像机以及 智能传感器等方面得到广泛应用 ，成为现代光 电子学和现代测试技术中最有成果的图像传感器． 随着 CCD的发展 ，也相应的研究了许多处理CCD信号的方法 ，如处理线性 CCD的小波分析法、重心法 等．这些方法应用的关键是处理器的选择 ，目前国内应用较多的是用 MCS51单片机 ．由于 CCD要有时钟脉 冲发生器提供各种逻辑定时信号 ，以保证电荷转移、信号检测和信号输 出，而单片机能产生移位脉冲频率不 高，即速度慢．数字信号处理器 (DigitalSignalProcessor，DSP)是一种具有高速性、实时性和丰富的芯片内部 资源的处理器 ，为人们解决这个难题提供 了一条新路．本文以TMS320LF2407ADSP芯片设计的精密测量 系统可以精确地测量 出目标 的微小变化． 1 系统工作原理及过程 基于DSP的CCD精密测量系统主要有CCD器件 、DSP、显示模块及控制模块．系统结构如图 1所示．系 统的工作过程为 ：CCD器件受 目标光的激发将光信号转化为电信号并在驱动脉冲的作用下输 出．CCD的输 出信号为离散的模拟脉冲序列，在 DSP处理器对它进行处理之前，须经过模数转换．处理器将模数转换的结 果存人片内的数据存储器中以便进一步处理 ，最后 DSP根据用户的要求将处理结果上经图形液 晶显示器显 示给用户． 图1 CCD精密测量系统 Fig．1 CCD precisionmeasuresystem 收稿 日期 ；2007—03—06 作者简介 ：贾旭光(1966一)，男，河北安平人，工程师，主要从事力学计量研究 · 67 · 维普资讯 徐州工程学院学报 2007年第 6期 2 精密测量处理系统的工作原理 2．1 信号采集和处理 CCD输出信号必须进行数字信号处理后，才能给出处理结果即 目标的位置．为了保证精度 ，本系统采用 线阵CCD加扫描运动完成图像采集，在这里选择 TCD102C线性 CCD，它是一二相双沟道线阵CCD摄像器 件 ，有效光敏单元 2048个，驱动频率为 1MHz，其 占空比为 1：3，器件 内部具有采用保持电路．转移脉冲 TSH 的周期即一次光积分的时间大于 2084个 T (T为驱动脉冲的OR的周期)，高电平时间至少为一个 T．其中 1，~P2的频率为