G-M计数管的可靠性.pdfVIP

，99垒田棱反应堆用棱仪器学术套议论文寨 tIle’99NalhIaI Proc神埔n舛of cc)n时er∞∞№cIt坩React吖lI培虮melIt G—M计数管的可靠性 李继源。 来永芳一 邹本日’ 张皓。 (’防化研究院，北京lo“信箱，102205l一防化指挥学院，北京1048信箱，102205) 棱反应：I|所用监控仪表对可簟性有很高的要求．采用新蛄扮、材辩和工艺翻造的洲计数臂具有程好的 可靠性．计数f的连续工作寿龠在s×10“以上．可连续工作十几年．听睡工作寿龠(类毒l于储存寿命)约墨20 年．在此其阿的失效率在5×10-‘／h以下．卤素G—M计数瞥的可簟性于电离宣、半导体探谢矗、内蒜体光电倍 增f探头相当． 关薯调tGM计数青可靠性寿膏失效率 。引言 妈4t、泞嘛、 TL引l；3 各种植设施、尤其是反应堆和核电站的安全性问题受到社会的特别关注．当今，B成为一 个敏感的社会问题．为了确保校设蘸的安全运行，降低校设摊运行中的风险度要求其监控仪表 必须具有租高的可靠性．棱辐射探测器是各种棱辐射检测仪表中的关键器件．它的可靠性对 仪表的可●性起关键制约作用．没有高可靠性的探测器就不可能有高可靠性的仪表． GM计效管(此处指高卤素猝灭GM计数管)是一种气体电离棱辐射探测器．由于它具 有许多独特的优点而得到广泛的应用．它的输出信号幅度大。无须复杂的电子线路放大就可以 苴接推动数字电路．信号幅度均齐、信嗓比高，大大减小了电路筒值波动带来的测量误差I它的 灵敏度裔、结构牢固、环境适应性好、价格较低．从而大量使用于各种棱辐射探测与辐射防护仪 器设备中．与闪烁体、半导体操测器共同成为当今使用最广泛的三种棱辐射探涓嚣． 自pM计数管问世以来巳有70多年的历史．获得广泛应甩的卤素GM管也有50余年 的历史．早期的卤素拿M计数管性能不够稳定．参致漂移大．失效率高．可靠性低．主要表现 为：玻璃壳计数管怕磋擅、易破碎．内部痘力消除不彻底．暑炸裂漏气．处理工艺不完善，性能 参数(包括量主要的参致——输出信号)不穗定，而且随着使用时闻的加长，不断漂移变化，以 致使仪表读数超出容许范圈．不能使用．自70年代以来．国内外在挺高计数管的稳定性、可靠 性方面散了大量研究．在材料、结构和制造工艺方面取得了突破性进晨．先后研制出了一系列 长寿龠、蠢可靠性的卤紊GM管．使卤素管可摹性问题得以解决． 岳M计敦管、与电寓室半导体操穗器、闪烁体(光电倍增管探头)搽测器一样。属于不可修 复产品(其他通用电子元器件也如此)．它的可靠性应以失效(损坏或不使用)前的时简一寿命 一来衡量．根据元器件所处状态和使甩要求不同，为了研究并解决不同状态下的可掌性问题。 又可将寿龠具体分为工作寿龠和储存寿龠．根据工作状态不同又可将工作寿龠分为连续工作 寿命和肝缓工作寿命．连续工作寿龠一般简称为工作寿龠。即昏M计敦譬在连续加电并有射 线照射条件下的寿命．实验证明．工作寿命的长短与工作负荷、即计致管输出计敦率的高低亦 即照射水平的高低有直接的关系．所以衡量工作寿命一般以计致管的累积计敷表示．个别也用 98 规定照射水平照射下的工作时问来表示． 断续工作寿命是指一般辐射探测仪器使用条件下的寿命．例如巡检仪器、辐射防护仪器、 环境监测仪器等．在这种状态下，计数管不是连续工作(有时加电．有时不加电)的。即使一直加 着工作电压(如棱电站固定式环境监测仪表)，但由于辐射水平报低，工作负荷很轻，近乎投有 工作．工作在这种状态下的辐射探测仪器设备还比较多(占辐射探澍仪器设备的多数)。但具体 情况又不尽相同．把这种情况归一化(规范化)相当困难．为了研究方便．把这种状态下的寿命 简称为“通常使用寿命”．对这种状态下的可靠性同题只能进行统计分析．通常使甩寿命一般 用失教率和寿命特征量来袭示． 储存寿命即各种储存状态下的寿命．其最有意义的是在标准仓储条件下的保存期．这也 必须经过统计分析得出。所以也应该用失效率和寿命特征量表示． 广泛地说．对恶劣使用环境的适应船力也是广义的可靠性的—个方面，目为各种可靠性指 标的得出都是在一定环境条件(或称。标准实验条件”)下得出的，偏离标准条件，指标往往没有 意义．所以．可靠的探测器也应该具有适应各种恶劣使用环境(高强、低温、湿热、振动、冲击、摇 摆、颠簸、尘沙等)的能力．对于这种环境下的可靠性问题．限于篇幅，在