影像测量仪高度测量解决方案.pdfVIP

影像测量仪高度测量解决方案 1、仪器推荐 推荐使用 2.5 次元影像测量仪 ，即有Z 轴测量功能。或复合式二次元影像测量仪 ， 即加装探针测量功能的 2.5 次元影像测量仪。 2、测量高度，深度方案 （1 ）、利用光学影像测量高度，此方法为非接触测量。适合表面发光性较好的产 品测量，尤其是材质较软，易受压力变形的产品测量。 （2 ）、探针测量高度，此方法为接触式测量。适合表面反光性较差但材质较硬的 产品测量，如注塑件。高度测量精度更高，更可靠。 3、测量原理 光学测量高度原理：首先通过软件在光学对焦过程中自动计算出两个表面最清晰点 的Z 轴坐标值，点击回车键，软件会自动测量出高度值。 探针接触测高原理：首先利用探针和平面的接触通过软件直接计算出 Z 轴坐标差值 即为高度。 4、使用方法 （1 ）光学测高测量高度和深度步骤： 第一步 ：打开软件，将产品放置在镜头下，并软件视频窗口找到需测量的第 一个平面。调整Z 轴高度使其处于该平面清晰面的上模糊面或下模 糊面。 第二步：从软件界面工具栏中（图 1 ）选择测高功能（图2 ） 图 1 图 2 第三步 ：如果是自动机，点击回车键即可，如是手动机请在点击回车键后手 动匀速调节 Z 轴高度，使其从上模糊面经过清晰面达到下模糊面， 然后向相反方向调节 Z 轴回到上模糊面，点击回车。 第四步：找到第二个测量面重复步骤三操作。点击回车即测量出高度或深度 值。如下图 （2 ）、探针接触测量操作方法及步骤 第一步：在功能切换窗口点击“3D 测量”（如图 4 ），选择高度测量功能。 图4 测高功能 第二步：选择需要测量的平面，并用探针在平面上任意触碰探测选定 3 个点 以确定一个基准平面。 第三步：选择第二个平面任意一点用探针触碰即得出高度值，如图 5 注意：手动使用接触式测量高度时，移动 Z 轴要缓慢，注意控制探针和产品接触式的 力度，不要损坏探针