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NiFeIrMn多层膜制备及MgO掺杂研究.pdf

李 明华 等 :NiFe/IrMn多层膜制备及 MgO掺杂研究 NiFe/IrMn多层膜制备及 MgO掺杂研究 李明华,游顺青,支Il 洋,陈 喜 ,董跃刚,于广华 (北京科技大学 材料学院材料物理与化学系,北京 100083) 摘 要: 采用磁控溅射制备 了Ta/NiFe/IrMn/Ta薄 膜时间确定每层薄膜的厚度 。制备样品时用带磁性的 膜,研究 了反铁磁 IrMn的溅射功率和铁磁层 NiFe厚 托盘 ,以在平行于膜面方 向感生一个易磁化方 向。利 度对多层膜交换偏置场的影响。在反铁磁 IrMn中插 用 MicomagTM2900型交变梯度磁强计 (AGM)测量 入 MgO,发现 MgO含量对交换偏置场有一定影响。 样品的磁滞回线 ,磁场平行于膜面且沿着易磁化方 向, 随着 MgO含量的增加,多层膜 的交换偏置场逐渐增 交换偏置场根据磁滞 回线 中心的偏移来得到 。制备 大,当MgO 的含量约为 2.5 交换偏置 场达到最 大 glass/Ta(5nm)/NiFe(z)/IrMn(7nm)/Ta(5nm)的薄 值。随着MgO含量进一步增加 交换偏置场 下降。在 膜样 品(其中最下层 5nm的Ta为缓冲层 ,最上层 5nm IrMn中插入适 量的 MgO可 以有效地增加 交换偏置 的Ta为保护层),在反铁磁 IrMn中掺入不 同含量 的 场 。 M gO 。 关键词 : MgO;掺杂;交换偏置场 3 结果与讨论 中图分类号 : 0484.5 文献标识码 :A 文章编号:1001—9731(2012)11-1503—03 3.1 反铁磁层的溅射功率、铁磁层厚度对 交换偏置场 1 1 O. O室 0. 1. 1 的影响 1 引 言 交换偏置场的大小与薄膜 的溅射功率有关 ,因此 随着交换偏置现象的发现,以及它在 自旋 阀和隧 尝试改变反铁磁层的溅射功率来获得理想 的大的交换 道结为基的磁电阻器件中的重要应用,人们对其进行 偏置场 的磁 滞 回线。设计 了如下多层膜 结 构 Ta 了大量而深入的研究工作 口]。研究发现铁磁 /反铁磁 (5nm)/NiFe(3nm)/(IrMn)(7nm)/Ta(5nm),通过改 系统中的交换偏置场不仅和铁磁 、反铁磁材料 的磁参 变反铁磁 IrMn的溅射功率 (功率分别是 60、80、100、 量有关 ,而且和铁磁、反铁磁的厚度 、结晶取 向、界面粗 13O、160W)得到一系列 的磁滞 回线 ,图1为 IrMn的溅 糙度、晶粒尺寸、冷却场的大小和方 向等有关 ]。 射功率为 60、100和 130W 的磁滞 回线归一化 曲线 。 最近研究发现在反铁磁材料中掺入非磁性物质能 图 2为偏置场 (H )随 IrMn溅射功率 的变化曲线图。 够影响铁磁 /反铁磁的交换偏置场及矫顽力 ,对不 同的 图 3为矫顽力 (H )随IrMn溅射功率的变化曲线 。 研究系统该影响有的有利,有的却有弊_7]。在实际应 - (a)IrMn功率60W · (b)IrMn功事80W 用中,磁电阻器件需要有大的交换偏置,所 以研究如何 :(c)IrMn功率130V 获得大交换偏置 、且有好的热稳定性的铁磁 /反铁磁系 统不仅在理论上有重要的价值 ,而且在实践上也有广 泛的应用前景。因此研究非磁性材料掺杂反铁磁层对 铁磁 /反铁磁体系的影响有着

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