利用偏振光测定晶体折射率的实验设计.pdfVIP

第 卷 第 期 北华大学学报（自然科学版） 7 6 VOl . 7 NO. 6 年 月 （ ） 2006 12 JOURNAL OF BEIHUA UNIVERSITY Natural Science Dec. 2006 !!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!! 文章编号： （ ） 1009-4822 2006 06-0495-03 利用偏振光测定晶体折射率的实验设计 郭秀芝，张跃林 （北华大学 理学院，吉林 吉林 132033 ） 摘要：根据晶体中折射率的分布规律与偏振光的联系，给出了利用偏振光测定晶体折射率的实验原理，以 ／波 X 4 晶片为例讨论了测定晶体折射率的实验方法和步骤，并说明了该实验的优越性. 关键词：偏振光；布儒斯特定律；折射率；晶体 中图分类号： 文献标识码： O734 A ! 引 言 折射率是衡量晶体光学特性的重要参数 测量晶体折射率根据需要可以采用各种不同的测量方法，如 . ［］ ［，］ ［］ 1 2 3 4 最小偏向角法 、布儒斯特角法 、激光干涉法 等，但均需购置一块特殊加工的晶体 本实验利用普物 . 实验室的现有条件，以波晶片作为被测晶体，利用布儒斯特定律在分光仪上实现了晶体折射率的测量. 本文首先讨论各向异性晶体的折射率及其与偏振光的联系，然后讨论利用偏振光测定晶体折射率的 X 方法、步骤，并以 波晶片（杭州光学仪器厂1980 年产品）为例，介绍测定其任意方向折射率的方法，并做 4 了误差分析. 实验原理 #! 晶体的折射率 ［］ 众所周知，晶体光学性质是各向异性的5 ，通过宏观测量即可反映晶体的各向异性性质 晶体在电场 . 作用下产生的极化也是各向异性的，即晶体在电场中不同方位的电极化率不同，从而晶体在不同方位的介 电常量也不同，它是二阶对称张量，相应的电位移可简写为 ， （ ） D = E EE 2 . 1