中山大学半导体物理2010级其中考试试卷标准答案.docVIP

中山大学半导体物理2010级其中考试试卷标准答案.doc

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中山大学半导体物理2010级其中考试试卷标准答案.doc

中山大学考试试卷 ( 期中卷 A ) 课程名称: 半导体物理 教师: 陈弟虎 考试时间: 第 13 周星期 ( 11 月 30 日) 题号 一 二 三 四 五 六 七 八 九 十 总分 得分 评分人 填空题(每题3分、共30分) 1. 在能带顶电子的有效质量是 负 的,而空穴的有效质量是 正 的。 2. 在半导体中,杂质所形成的电子态一般都是位于 禁 带中; 当半导体在电场的作用下,其能带必然发生 变化或顷斜 。 3. 在掺杂半导体中,载流子浓度主要取决于 杂质浓度 和 温度 两种因素。在强电离区,载流子浓度为 有效杂质浓度。杂质浓度 ,而在高温本征区,载流子浓度为 本征载流子浓度 。 4. 在半导体中,导带电子和价带空穴遵从玻尔兹曼分布或费米分布。其简并化条件为:当EF非常接近或进入导带(价带)时,称为 简并 半导体,载流子浓度服从 费米 分布;而当EC-EF 》kT 或EF-EV 》kT时,称为 非简并 半导体,载流子浓度服从 玻尔兹曼 分布。 5.根据费米能级的位置填写下面空白(大于、等于或小于) (a) np ni2 (b) np = ni2 (c) np ni2 6.在热平衡条件下,温度T大于0K,电子能量位于费米能级时,电子态的占有几率是 1/2 。若EF位于EC,试计算状态在EC+kT时发现电子的几率为 (1+e)-1 。在EC+kT时,若状态被占据的几率等于状态未被占据的几率。此时 费米能级位于何处 FF =EC+kT ? 7.导出能量在Ec和Ec+(kT之间时,(是任意常数,导带上的有效状态总数(状态数/cm3) (8(V/3)([(2m*n(kT/h3)]3/2 。 8.在半导体导带底之上能量为E=EC+k0T的电子状态被电子占据的几率为e-10, 则该半导体材料内费米能级的位置为 B : EF=EC, (B)EC-EF=9k0T, (C) EC-EF=10k0T (D)EF=EC+k0T 9.在保持300K温度时,硅器件显示出如下能带图,使用该能带图回答下列问题: (数值计算取ni=1010/cm3, k0T=0.0259eV) (6分) 半导体处于平衡态吗?( A ) (A)平衡 (B)不平衡 (C)不能确定 (2) 半导体在何处是简并的?( C ) (A)在靠近(=0处 (B)在 (C)在靠近x=L处 (D)任何地方都不是 (3)在x=x2处,p=? ( B ) (A)7.63(106/cm3 (B)1.35(1013/cm3 (C)1010/cm3 (D)1.72(1016/cm3 (4)流过x=x1处,电子的电流密度Jn为 ( A ) (A)0 (B) (C) (D) (5) 流过x=x1处,空穴的漂移电流密度JEp为: ( B ) (A)0 (B) (C) (D) 二、论述题:(30分,每题15分) 1.一维晶格能量E与波矢k的关系如图所示。分别讨论下列问题: (1)假设电子能谱和自由电子一样,写出与简约 波 矢k=1/4a对应的A(第I能带),B (第II能带)和 C (第III能带)三点处的能量E。 (2) 在k=0处,图中哪个能带上的电子有效质量最小? (3)在k=0处,第II能带上空穴的有效质量(mp*(比第III能带上 的电子有效质量(mn*(大还是小? (4)当k为何值时,能带I和能带II之间,能带II和能带III之间发生跃迁需要的能量最小? [解]:(1) E(k)=E(0)+h2k2/2m*=E(0)+h2/32m* EA(k) =E(0)+h2k2/2m*=EI(0)+h2/32mI* EB(k) =E(0)+h2k2/2m*=EII(0)+h2/32mII* EC(k) =E(0)+h2k2/2m*=EIII(0)+h2/32mIII* (2) mI*0, mIII*0, mII*0 在k=0处,II带上的有

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