03第三章原子吸收光谱法.ppt

三 分光系统： ◆作用：将共振吸收线与邻近干扰线分 开。 ◆组成：主要包括入射狭缝、准直镜、 单色器和出射狭缝。 四 检测系统： ◆包括光电倍增管（PM）、放大器和读 出装置。 易电离元素在火焰中产生电离，使基态原子数减少，吸光度下降的现象。 §3—4 原子吸收的干扰及其抑制 一、电离干扰及其抑制： 1．定义： ●火焰温度越高，干扰越严重； ●ⅠA、ⅡA主族金属的电离能低于6eV， 电离干扰尤为显著。 2．消除： 加入消电离剂，可以抑制电离干扰。 消电离剂：在火焰中能提供大量电子而又不会在吸收波长产生吸收的易电离元素。 常用的消电离剂：CsCl、KCl、NaCl等。 浓度：一般为1%左右。 二、物理干扰及其抑制： 1．物理干扰： 试液的物理性质和其他因素引起雾化、溶剂蒸发等过程的变化而产生的干扰。 2．消除： ① 配制与待测试样溶液相似的标准溶 液，或采用标准加入法； ② 使用多道原子吸收仪时，采用内标法； ③ 加入基体改进剂。 如：粘度 气压 毛细管 基体 三、化学干扰及其抑制： 1．化学干扰： 待测元素同试样中的共存元素或火焰成分发生化学反应，影响元素的原子化所引起的干扰。 ●化学干扰具有选择性； ●影响程度取决于待测元素与共存元 素的性质，且与火焰类型、状态、 部分等有关。 2．消除： ① 适当提高火焰温度，使难挥发、难离解 的化合物离解成基态原子； ② 加入释放剂与干扰元素生成更稳定的化 合物，从而使待测元素的原子从干扰元 素的化合物中释放出来； ③ 加入保护剂与待测元素形成络合物，阻 止其与干扰元素结合； ④ 加入基体改进剂； ⑤ 化学分离与富集。 四、光谱干扰及其抑制： 1．吸收线重叠干扰： ●光谱通带内有一条以上的吸收线或 邻近线，称为吸收线重叠干扰。 ●可用减小狭缝宽度，降低灯电流或 选择其它分析线的方法消除。 ●背景干扰主要指分子吸收、光散射 及火焰气体吸收等。 2．背景干扰： ●在实际工作中，采用升高火焰温度 使分子离解或调零扣除背景。 ●在仪器上常采用氘灯或塞曼效应校 正背景。 2C2H2＋5O2﹦4CO2＋2H2O；2C2H2＋24空气﹦4CO2＋2H2O * §3—1 概 论 一、定义： ●基于物质的基态原子蒸气对同种原子辐射 的特征光谱能量的吸收作用来进行定量分 析的方法。又称原子吸收分光光度法，简 称为AAS。 二、特点： ●灵敏度高； ●抗干扰能力强； ●选择性好； ●仪器简单，操作方便； ●能直接测定六十多种元素。 §3—2 基本原理 一、基态原子数与温度的关系： ◆ 基态原子数并不等于原子总数; ◆ 能否用基态原子数代替总原子数？ ●当达到热平衡时，激发态原子数Ni 与基态原子数N0之比，可用波尔兹 曼方程表示： ② 当T一定时，Ei ↘， ↗。 ① T ↗， ↗； ③ 能否用基态原子数代替 总原子数，取决于原子 化的温度和激发态的能 量大小。 例：计算在2000K和2500K时，Na原子波长为 589.0nm的谱线的 之比。已知 ＝3。 解： ∵ 又 ∴ 当T＝2000K时，有： ＝3×e-12.234＝1.46×10-5 同理T＝2500K时： ＝1.7×10-4 ＝0.0015℅ ＝0.017℅ 结论：在通常的原子化温度下，大多 数元素的 值都小于1%，即 激发态原子数Ni与基态原子数 N0相比是可以忽略的，可以用 基态原子数N0代表待测元素吸 收辐射的原子总数。 二、原子吸收线的宽度： 一 吸收线的宽度： ★ 原子理论上应产生线状光谱吸收线，实际 上用特征吸收频率左右范围的辐射光照射 时，获得一峰形吸收（具有一定宽度）。 即原子线具有一定的形状，占据一定的波 长或频率范围，即谱线有一定轮廓。 谱线强度或吸收系数按频率或波长变化的关系曲线，亦称吸收曲线。 ★ 吸收线的轮廓： γ0——最大吸收处对应的频率 为吸收线的中心频率； K0——中心频率对应的吸收 系数，称峰值吸收系数； ΔγorΔλ——峰值吸收值 一半处的频率宽度，简称 吸收线宽度。 二 吸收线变宽的原因： 1．自然宽度ΔγN或ΔλN： 在无外界条件影响时，谱线的固有宽度，称为自然宽度。 ◆定义： 自然宽度与激发态原子的平均寿命有关，平均寿命愈长，谱线宽度愈窄。可用测不准原理解释。 ◆产生原因： ◆大小： 约为10-5nm。 ◆由于ΔγN或ΔλN比其它原因引起的谱线变 宽小得多，故在实际测