毛细管电泳柱上电化学检测中的耦合问题.pdfVIP

其它 毛细管电泳柱上电化学检测中的耦合问 Girault 吴志勇·，方芳，Hubert 电化学检测方法选择性强，灵敏度高，电路系统简单，容易集成，因此成为毛细管电泳 很有潜力的检测手段之一。然而由于电耦合问题的存在，电化学检测方法在毛细管电泳中的 应用和发展受到很大限制。上万伏的电泳高压的耦合可能导致通常只在数伏内工作的电化学 检测系统的电位失控和检测电极上明显的电极反应产生，甚至对电化学控制及信号记录造成 严重损害。我们认为电耦合的实质是由于检测电极系统处在电泳高压电场中的不同电势点所 致。实际上利用这一耦合作用还可以实现某些电化学和电化学发光检测的目的【1．2】。基于如 上认识，本文提出了一种解决电化学检测中的电耦合问题的方法，设计了三种电极结构的芯 片进行了验证。 试验部分 分别用激光烧蚀[1】和玻璃刻蚀的方法设计了三个结构的芯片。其一是用激光烧蚀和热 压封和的方法将直径lOum的碳纤维和Ag／AgCI膏电极集成在分离通道的同一位置(图1)。 其二是用同上方法制备10um碳纤维电极和Ag／AgCl丝电极组成的检测系统，通过激光加工 的10um的孔与定位在微通道上的碳纤维电极正对(图2)。碳纤维电泳在芯片封和前在显维 镜下定位。带有面对面结构电极的玻璃芯片中通过电极通道将两支直径50um的Pt电极插 入导分离通道上。如上三种芯片的共同特征是两个微电极均在通道同一位置上组成二电极电 化学检测系统。用电化学工作站，以铁氰化钾为探阵分子，对如上方法制备的微通道上的电 化学行为进行了CV和计时安培检测。高压电源采用悬浮供电以避免检测点的对地高压可能 对电化学检测系统的电冲击损坏。高阻抗电位计用于记录施加电泳高压电场时在两个电极上 产生的耦合电位差。 结果与讨论 将高压电源施加在芯片通道上，用高阻抗电位计测量不同电场强度下两个电极上的电位 差。三种结构的芯片在高达200V／cm的电场强度下的电位差仅在15-～200mV之间，主要是 由于两个电极定位微小差异造成。如上结果表明，通过将检测电极置于分离通道中同一位置 (等势面)的方法可以大大减小甚至消除耦合的影响。 将铁氰化钾溶液注入微通道中，在两电极电化学模式下【3】进行扫描得到CV如图1b和 图2c所示，得到了微电极电化学特有的S形CV图。通过微孔联通的芯片得到的CV轮廓 与A的不同，表现为电流随着扫描电压的升高继续升高。随着扫描电位的升高，联通工作 电极和对极的孔可能形成一个不可忽视的电场强度，由此导致在检测等势面上的微孔(作为 微管道)中产生EOF而增强了电活性组分的传质所致。 在玻璃芯片上的微通道中灌注支持电解质溶液，然后将通道前端的支持电解质溶液换为 lmM的铁氰化钾溶液，在通道上施加悬浮高电压同时在两个Pt电极上用恒电位仪施加固定 电位进行安培检测。施加高压电场一定时间后检测到电流的阶越变化，可能是因为铁氰化钾 在EOF和电泳作用下通过分离通道经过检测点被检测的结果。结合进样的芯片电泳电化学 检测方法研究在进行中。结合现有芯片上集成电极的技术，本文提出的克服电泳柱上电化学 检测中电耦合的方法有可能成为电泳电化学检测系统的设计的基础。 ’通讯联系人：吴志勇 微流挡芯竹实验室进展 习 目l通避内壤＆碳目镕Ⅻ州^目■青％板结陶CVH． b L 1 一一n日口恤I 向r上。。。 目2堪过mn联通的碳卦雉w^∥^罢cl#蛆№∞柱Lm化}睑捌№镕构cV目 参考文献 X-Xet 3126—313t [I]8al a1．^M1。01E_，M，m 2 [2]是女勇婷，毛自*自镕A谶#t电#植Ⅻ^法拉鹕々W十镕号2I)q710011023