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基于小波分析的点采样表面简化.pdf
第25 卷 第4 期 北 京 理 工 大 学 学 报 Vol. 25 No.4
2005 年4 月 Transactions of Beijing Instit ut e of Technology Apr .2005
: 1001-0 45(2005) 04-0341-05
阎光伟, 刘玉树, 刘玉龙
( 北京理工大学 信息科学技术学院计算机科学工程系, 北京 100081)
: 在对点采样表面 行小波分析的基础上, 提出了2 种新的点采样表面的简化方法. 通过对目标表面的空间
频率及信号能量 行控制, 实现点采样表面的简化. 方法一, 通过对点采样信号 行低通滤波及降低采样率的方式
对表面 行重采样;方法二, 通过对点表面 行能量阈值化, 对不同区域使用不同采样率的方式 行非均匀采样.
实验表明, 这2 种方法能够分别在目标表面最高空间频率及最低信号能量准则下, 实现点采样表面的有效简化. 提
出的点采样表面小波处理流程还可应用于点采样表面的几何压缩、特征检测与提取和点采样表面的编辑.
: 表面简化; 点采样; 基于点的表示; 小波分析; 低通滤波
: T P 391. 41 : A
-
Simplification of Point Sampled Surfaces Based on Wavelet Analysis
YAN Guang-wei, LIU Yu-shu, LIU Yu-long
( , ,
Department of Comput er Science and Engineering School of Information Science and Technology Beij ing Institute
of Technology, Beij ing 100081, China)
: -
Abstr act Two new methods for simplification of point sampled surfaces based on wavelet
filtering are presented. The surface simplification is implemented through the control of
maximum surface spacial frequency and minimum surface signal energy. The fir st method filter s
- . -
the surface by means of wavelet low pass filter at fir st Then it down samples the surface
according the low-pass cutting frequency. The second method simplifies surfaces by controlling
surfaces ener gy and implementing non-uniform sampling. Experiments showed the methods could
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