用于控制NRE和产品测试成本的改进的设计生产测试的流程.pdfVIP

电电子子工工业业专专用用设设备备 ·专题报道· EEgguuiippmmeenntt ffoorr EElleeccttrroonniicc PPrroodduuccttss MMaannuuffaaccttuurriinngg 用于控制!# 和产品测试成本的改进 的设计-生产-测试的流程 Mike Kondrat (科利登系统公司) 摘 要：介绍传统测试流程和先进测试流程的比较，新测试流程利用在设计中使用虚拟测试工具、 专门的工程测试系统以及灵活的自动测试系统来降低 SoC 芯片的测试成本。 关键词：可测性设计；数字虚拟测试仪；测试开发环境 中图分类号： 文献标识码： TN407 A 1004-4507 2003 03-00 12-03 !#$ % （ ） Improved Design-to-Production-test Flows Reguired for Controlling NRE and Production test Costs Mike Kondrat (Credence Systems Corporation) Abstrct: Introducing a comparison between canventionaI test fIow and advanced test fIow,new test fIow with VirtuaI Tester, speciaI Engineering Test System and fIexibIe ATE Lowered the test cost of SoC. Keywords: DFT; DigitaI VirtuaI Tester; Test DeveIopment Environment 通过将成 熟 的数字 电路核与模 拟 功 能 电路集 速变化 的情况下使产品测试成本更低 。 通过有效调 成在 同一块芯片上 ，SoC 制造 商们就能够提供功 能 节设计和测试之 间的关系 ，这些新方法提供 了一个 强大和高性能市场领先 的应用需求 ，如音频 、视频 、 更为有效 的 SoC 设计-生产-测试解决方案 ，能减少 多媒体、无线远程通讯 以及数据通讯 。 另外 ，各公司 复杂度 不 断增长 的 SoC 芯片 的批量 生产上市周期 在 向 90 nm 技术前进 时在成本和产 品上市 周期上 和测试成本 。 都要有很强 的竞争力 。 然而 ，在设计这些 复杂 的芯 测试工程师面 临不断增加 的挑 战，不仅来 自于 片 时，SoC 制造商们发现 自己面 临着急剧增加 的设 数量级达几百万个 晶体管芯片所需 的大量测试 ，也 计和测试难度 ，常常导致 芯片不工作 ，更长 的测试 来 自于待测试 的芯片包含 了许 多 IP 核后测试 的复 开发周期和额外 的延迟 。 在要提供能工作 的芯片 的 杂性增加 。 测试工程师必须保证测试程序足够优化 压力下 ，工程师们发现 自己没办法 了解先进工艺技 以缩短测试 时间，还要运用尽可能少 的测试设备资 术和生产性能的全部潜能。于是 ，SoC 制造商们便转