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维普资讯
第 6卷 第 18期 2006年9月 科 学 技 术 与 工 程 Vo1.6 No.18 Sep.2006
1671-1815(2006)18—2949—04 ScienceTechnologyandEngineering ⑥ 2006 Sci.Tech.Engng.
x射线荧光光谱法用于CIGS薄膜太阳电池中
吸收层的定量分析
刘芳芳 何 青 李凤岩 周志强 孙 云
(南开大学光电研究所 ,天津 300071)
摘 要 介绍了X荧光薄膜分析法测试CIGS薄膜太阳电池中吸收层的4种元素的比例 ,并对其进行 了分析和研究 ,此方法测量
速度快,精确度高,对于制备高效率的CIGS太阳电池具有重要的指导意义。
关键词 CIGS薄膜太 阳电池 X射线荧光分析方法 转换效率
中图法分类号 0657.34: 文献标识码 B
太阳电池利用半导体 的光伏效应直接将太 阳 x射线荧光分析方法 (XRF)是20世纪60年代得
能转换成 电能,是一种清洁 、高效 、廉价 、无污染 的 到迅速发展和应用的一种快速元素定量高精密度
“绿色 ”新型能源。薄膜太阳电池是太阳电池的一种 的分析方法。XRF分析样品制备简单 ,分析过程在常
类型,其 中最有前途的一种薄膜太阳电池是Cu(In, 温下进行 ,对环境污染较少 ,相对于其它手段具有
Ga)Se(简称CIGS)薄膜太阳电池 ,这是一种 以Mo/ 明显的优势。本实验利用XRF对CIGS吸收层进行了
CIGS/CdS/ZnO结构为基础制作 的异质结太阳电池 。 定量分析和探讨。流程较为简单快速、干扰少 、测定
由于其廉价 、高效、性能稳定和较强的抗辐射能力 精度和准确度较好
而得到各国光伏界的重视。其中吸收层是一种四元
1 X射线荧光光谱仪的基本原理
化合半导体薄膜 ,其禁带宽度可在 (1.04—1.67)eV
之间由其中的Ga含量调整来获得梯度带隙结构 ,从 x射线荧光分析方法 (以下简称x荧光法)基于
而与太阳光谱得到最佳匹配,使光 电转换效率得到 原子受到外界激发时,壳层 电子发生迁移,产生特
提高。 征x射线 。这种特征x射线 的能量 ( )与原子序数
CIGS薄膜太阳电池的光学性质主要取决于 (Z)有关。理论和实验证 明,它服从莫塞莱定律 :
CIGS层 的元素组分 比、各组分 的均匀性 、结晶程度 、 E (Z-B) (1)
晶格结构及 晶界 的影响。大量实验表 明,材料的元 对于相同谱系所有元素 值相同。同一谱系所
素组分与化学计量 比偏离越小、结 晶程度好 、元素 有特征X射线的 相同。(1)式说 明特征x射线的能量
组分均匀性好其光学吸收特性就越好 .对转换效率 正 比于原子序数 的平方 ,即元素 (Z)均有其对应 的
的提高也就越有利。所以精确地掌握吸收层CIGS薄 特征x射线 。所以。特征x射线又可成为元素的标志,
膜的成分比例 ,对于CIGS薄膜太阳电池 的研究工作 利用它可以辨别不同的元素 。这就是x荧光法定性
极为重要 。 分析的依据
x射线荧光光谱仪是依据激发源入射的原级x
射线激发样品产生的荧光x射线光谱进行物质成分
2∞l6年6月5日收到 分析和化学态研究的一种分析仪器。由x光管,分光
第一作者简介 :刘芳芳 ,女 ,(1978一),工程师,硕士 ,研 究方向:化合 晶体、探测器、放大器、脉冲高度分析器、定时器、定
物半
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