晶体表面宏观迹线分析方法及其应用.pdfVIP

晶体表面宏观迹线分析方法及其应用.pdf

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蒡 36卷 第 2期 金 属 学腹 V0】.36 NO2 2000 年 2 月 ACTA METALL RGICA SINICA Februarv2000 晶体表面宏观迹线分析方法及其应用 ) , 李 蓬 ofMaterialsScienceandEnginoering UniversityofVirginia、Charlottesville,VA 22903 USA) 张永刚 (大冶特殊锕股股份份有有 否可j五 ,,黄黄石石435001) c]京航空航天大学材料科学与 】 系 北京 [00083) 摘 要 从晶体表面峦观迹线配置.提出精确确定各种晶丢晶体 承H、汁算单晶3寸、相互垂直表面 卜婪悻帮挛品中滑桴面相孪生面 等迎线分布的方法 作为应用实侧.精确确定丁一种四方点阵结构的Ti56A1(原子分数,%)单晶的毫i吧取茸 it劳印拟占出试洋3 十不 格垂直表面的指数厦其上垒部迹线丹布 Ti一56A1单品 7Q/+~ 中图法分类号 TG115.2139TG14623 文献标识码 A 文章编号 O4121961l2000)020212—05 ANALYsIsMETH0D0FMAcR0sc0PIcTRAcE0N 丁 』- CRYSTAL SURFACE AND ITS APPLICAT10N LIPen9 DepartmentofMaterialsScienceand Engineering,UniversityofVirginia.Charlottesville.VA 22903.USA LIYuqing TechnologyCenter,DayeSpecialSteelCorp Lid Huangshi435001 ZHANG Y0nggang DepartmentofMaterialsScienceandEngin~rlng,BeringUniversityofAeronauticsandAstronautics.Bering1O00gg Correspondent:LIYuqing,seniorengineer, f(0714)g451671E-mail:l~qsth唧ublichshbcn Manuscriptreceived 1999-05-26 inrevised form 1999—1l-29 ABSTRACT Intermsofdistributionsofmacroscopictracesoncrystalsurfaces.amethodwasproposed foraccuratelvdeterminingtheorientationofcrystalsforallsystemsandcakulat[ngtracedistributions 0fs1|D planesand twin planesin both matrix and twin On threesurfaces,which are norlnalto each other,inasinglecrystalAsanexampleforapplication.themacroscopicorientationofTi一56A1(atomic fraction,%)singlecrystalwithtetragonallatticewaspreciselydetermined,andtheindicesofthreesurfaces approximately

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