模拟验证中覆盖评估技术分析.pdf

塑型堕鲨±翌苎鲨竺垫查塑坐壅：垫兰一一—— 摘要 随着半导体工艺突飞猛进的发展，集成电路(IC)设计的规模和复杂度呈指数级增 verification)成为Ic设计流程中的一个重要环节。 艮，设计验证(design 本文研究模拟验证中的激励生成和覆盖评估。论文全面分析了这两个领域内已有的 研究成果和成熟技术，并应用于通用CPU设计验证的工程项目之中。在激励生成研究 方面．本文将基于测试向量的验证方法应用于通用CPU的设计验证之中，通过实验结 果，论述了该方法的有效性。在覆盖评估研究方面，本文分析了各类覆盖准则的特点， 并在通用CPU的设计验证中，运用多种准则评估了基于测试向量的验证激励，在此基 础L分析了各类准则的优缺点和适用情况。 由于穷尽模拟所有可能的输入组合通常是计算上不可行的，所_以在现代模拟验证流 程中，覆盖评估技术已经成为不可或缺的重要环节。然而目前商用的覆盖评估技术有很 大的局限性——基本没有考虑可观测性，这可能导致表砸上很高的覆盖率数据所蕴含的 可信度不高。而已有的研究领域中的可观测性覆盖评估技术时间开销较大，且不能与现 有的模拟验证工具很流畅的结合。 针