X射线粉末衍射结构分析培训班-课件-刘泉林.ppt

简单立方点阵 （100），（110），（111） 面心立方点阵 （111），（200），（220） 体心立方点阵 （110），（200），（222） KCl NaCl (KBr) 1913年6月 W.L. Bragg 皇家学会论文 (1915年诺贝尔物理学奖) 2.5 衍射峰形 仪器影响: 光源发散性 光路准直 狭缝 样品影响：粒度，结晶度 X射线衍射强度与峰形 峰形函数 2.6 X射线产生、分类与防护 接变压器 玻璃 钨灯丝 金属聚灯罩 铍窗口 金属靶 冷却水 电子 X射线 X射线 X射线管剖面示意图 （回车键演示） 过程演示 标识谱线 连续谱线 在上述K线系中，只含有三条具有显著强度的线，为K?1, K?2, K?. K?1和 K?2 线相互靠得很近，K?1波长略短，一般???0.004nm, ?. K?1强度约比 K?2强一倍。 结构分析中有时K?1和 K?2不易分辨，这时波长采用权重平均值表示 K?线的波长比K?约短10％，强度约为K?的1/7, 或为K?1的1/5。 莫塞莱定律 标识X射线谱的频率和波长只取决于阳极靶物质的原子能级结构，是物质的固有特性。且存在如下关系： 莫塞莱定律：标识X射线谱的波长λ与原子序数Z关系为： 1914年，英国物理学家莫塞莱（Henry Moseley,1887-1915） 莫塞莱定律 X射线与物质相互作用 热能 透射X射线衰减后的强度I0 散射X射线 电子 荧光X射线 相干的 非相干 的 反冲电子 俄歇电子 光电子 康普顿效应 俄歇效应 光电效应 X射线的衰减规律 当一束X射线通过物质时，由于散射和吸收的作用使其透射方向上的强度衰减。衰减的程度与所经过物质中的距离成正比。式 质量衰减系数μm 表示单位重量物质对X射线强度的衰减程度。 质量衰减系数与波长和原子序数Z存在如下近似关系： K为常数 μm随λ的变化是不连续的其间被尖锐的突变分开。突变对应的波长为K吸收限。 滤波片 例如:Ni的K吸收限 （0.1488nm）， 正好在Cu阳极的 K?（0.1543nm） 与K?（0.1392nm）之间 X射线的探测 荧光屏法； 照相法； 辐射探测器法：X射线光子对气体和某些固态物质的电离作用可以用来检查X射线的存在与否和测量它和强度。按照这种原理制成的探测X射线的仪器电离室和各种计数器。 X射线的安全防护 X射线设备的操作人员可能遭受电震和辐射损伤两种危险。 电震的危险在高压仪器的周围是经常地存在的，X射线的阴极端为危险的源泉。在安装时可以把阴极端装在仪器台面之下或箱子里、屏后等方法加以保证。 辐射损伤是过量的X射线对人体产生有害影响。可使局部组织灼伤，可使人的精神衰颓、头晕、毛发脱落、血液的组成和性能改变以及影响生育等。安全措施有：严格遵守安全条例、配带笔状剂量仪、避免身体直接暴露在X射线下、定期进行身体检查和验血。 谢 谢! * 2.3 实验技术 狭缝的选择 问题： 分辨率和强度 低角度衍射峰 常规实验条件 X-ray 功率：40-50 kV mA 2?: 20-80? (物相鉴定） 10-80 20-120 10-140 （结构分析） 扫描方式：连续扫描 ~每分钟8度 （物相鉴定） 步进扫描 0.02度 停留 2秒 （最强峰 ~10000计数） 狭缝：分辨率 与 强度 综合 2.3 实验技术 2.4 衍射强度的测量、影响因素及数据分析 结构因子 ? 实验强度?? 结构因子? X射线衍射强度 衍射强度的影响因素 角因子 偏振因子 洛伦子因子 实验强度?? 结构因子? O Y Z X E01 E02 A 2? ?1 ?2 粉末衍射法(平板状或圆柱状照相)的洛伦兹因数为 洛仑兹偏振因数LP 多重性因数 各衍射线具有相同的d值，但强度不同 立方晶系：410 322 因对称关系各衍射线具有相同的d值，相同强度 立方晶系：312 123 321 温度因数 2, 3’ 2’3 吸收因数 初级消光和次级消光 择优取向 衍射背底 衍射光路： 发散度 零点 样品漂移 穿透深度 衍射强度的收集、修正、统一与还原 实验强度?? 结构因子? 单晶体结构测定 hkl 单晶衍射数据 模型法 向量空间法 电子密度函数法 直接法 程序 SHELX 97 尝试法 同构型法 从头计算法（分峰直接法） 最大熵法 蒙特卡洛法 遗传算法 粉末衍射法测定晶体结构 三维数据 一维数据 物相分析 晶格常数测定 晶体