等通道角变形(cap)对纯镁的阻尼性能与力学性能的影响.pdfVIP

Classified Index: TG 146 U.D.C.: 621.758 Dissertation for the Master Degree in Engineering Damping Capacity and Mechanical Property of Pure Mg Processed by Equal Channel Angular Pressing Candidate： Fan Guodong Supervisor： Prof. Zheng Mingyi Academic Degree Applied for： Master of Engineering Specialty： Materials Science Affiliation: School of Mater. Sci. Eng. Date of Defence ： June, 2008 Degree-Conferring-Institution ： Harbin Institute of Technology 摘 要 摘 要 本文采用等通道角挤压(ECAP)对挤压态纯镁在 150°C 至 350°C 温度范 围内进行了不同道次的塑性变形。采用光学显微镜和透射电子显微镜研究了 挤压态纯镁 ECAP 变形前后的显微组织变化，采用 X 射线衍射和 EBSD( 电 子背散射)对 ECAP 变形前后纯镁的织构演变进行了分析，采用拉伸试验机 对 ECAP 变形前后纯镁的室温拉伸性能进行了测试，采用机械动态分析仪 (DMA-Q800)测试了 ECAP 变形前后纯镁的阻尼性能。 挤压态纯镁晶粒度约为 50μm ，经低温 ECAP 变形后纯镁晶粒可细化到 3μm ，其晶界极其不规则，存在大量具有高密度位错的亚晶组织。随着 ECAP 变形温度的升高，再结晶越来越充分，各道次晶粒变化不明显，但晶 粒逐渐趋于等轴，位错密度逐步降低。由于受到晶粒度和织构双重因素的影 响，ECAP 变形后纯镁的屈服强度随着变形道次和变形温度的升高逐渐降 低，而延伸率逐步提高。250°C 下 ECAP 变形 6 道次纯镁的晶粒由于出现了 双峰分布，其延伸率达到 28% ，而且强度也没有损失。 对纯镁的阻尼-应变谱研究表明，挤压态纯镁经 ECAP 后，低应变下阻 尼升高，而高应变下阻尼降低；随着 ECAP 变形道次的增加，与应变振幅 无关的阻尼逐渐升高，临界脱钉应变降低；随退火温度升高和时间的延长， 与应变振幅无关的阻尼先降低后又升高。晶粒尺寸、晶界状态、溶质原子分 布以及织构均对纯镁的阻尼性能有影响，凡是能提高位错密度和长度、增加 位错可动性的方法都可以提高纯镁的阻尼性能。对纯镁与应变振幅相关的阻 尼进行 G-L 曲线拟合，发现其偏离了直线，说明可能还有阻尼的其它影响 因素，如孪晶、晶界滑移等。 对纯镁的阻尼-温度谱研究发现，在 70~250°C 温度区间 ECAP 变形后纯 镁的阻尼性能要比挤压态的高出很多。各种缺陷对材料的高温阻尼性能均有 贡献。本文主要发现 3 个阻尼峰：低温峰 P1 经退火后变得明显，其激活能 为 93kJ/mol ，为溶质原子拖曳位错在基面滑移的阻尼峰。P2 阻尼峰与晶界 状态紧密相关，其激活能介于晶界扩散激活能和体扩散激活能之间，为晶界 滑移峰；P3 与纯镁内部存储的变形能有关，为再结晶峰。 关键词 等通道角挤压；纯镁；阻尼性能；力学性能 - I - Abstract