抗单粒子效应的动态逻辑电路版图加固方法.pdfVIP

2o15．I8 抗单粒子效应的动态逻辑电路版图加固方法 王海滨，杨云楼 (河海大学物联网工程学院，江苏常州，213022) 摘要 ：在高速电路设计中，动态逻辑电路应用十分广泛。但由于缺乏内在的上拉恢复路径，动态逻辑电路对单粒子效应极其敏 感。因此，相比静态逻辑电路，它们在可靠性要求较高的应用中缺乏吸弓l力。因此，基于版图布局技术，提出了两个抗单粒子效 应的动态逻辑电路设计。因为敏感节点之间的电荷共享效应，单粒子瞬态脉冲得到抑制。仿真结果和实验数据验证了它们具有 更高的防止单粒子效应错误的能力。 关键词 ：动态逻辑 ：抗辐射加固 ：单粒子效应 ：软错误 ：脉冲窄化 中图分类号 ： 木 文献标识码 ：A doi：10．3969／j．issn．1006—2475． SingleEventHardenedDynamicLogicBased-——onLayout Techniques WangHaibin，Yang Yunlou (CollegeofIOT，HohaiUniversity，Changzhou Jiangsu，213022) Abstract：Due to the intrinsic lack of restoring paths，dynamic logic circuits have significant single— event susceptibi1ity，and thus，they are not preferred in applications requiring high reliabi1ity when compared to static logic．However，in high speed applications，thiS circuit family is sti11 very attractive． Therefore，thispaperspresentstwo layout-based single—eventresilient dynamic logic designs．Theresultant SET pulse is suppressed because of charge—sharing in the layout—leve1．Simulation results verify that they enjoy higher single eventtolerance．Experimentalresults validate thefact thatapproximately 20％～30％ of magnitude reduction in cross—section is achieved for both designs．On the other hand， the increase in single—eventperformance iSachievedat the expenseofnon—significantpower andarea overhead． Keywords：dynamic logic：radiation hardening：single event effect：softerror：pulsequenching 0 引言 小的扰动都可以改变它的状态。 各种动态逻辑辐射加固技术被提出并得以验证，大多数是门 在自然环境中，无论是在外层空间或海平面 ，都存在有各 级的加固方法。例如 。通过引入的168％的开销和 182％的功耗， 种各样的辐射粒子。当这些粒子穿过半导体材料时 ，会有电荷 采用双冗余的电路结构的软错误率降低了4．5倍到6倍。尽管这 沉积并产生额外的电子和空穴对，这跟入射粒子的LET值密切相