《无专用测试接口设备的TPS设计》.pdfVIP

第30卷第3期 光电技术应用 Vo1．30．No．3 2015年6月 ELECTRO．OPTICTECHNOLOGY APPLICATION June，2015 · 电路与控制 · 无专用测试接 口设备的TPS设计 王 建，高 莹 (中国电子科技集团公司光电研究院，天津 3~000) 摘 要：针对无专用测试接 口的设备进行TPs测试时单个现场可更换单元故障隔离率低的问题，采用测试信号并行引出技 术。开发现场可更换单元的测试适配板等测试硬件 ，将现场可更换单元的测试信号并行引出到自动测试设备进行测试分析，高可 靠地实现了单个现场可更换单元的故障隔离；同时对信号并行引出带来的测试信号失真问题，在测试程序中采用动态库数据解 析技术，提高了测试信号参数解析的准确率。 关键词：TPS；现场可更换单元；专用测试接 口；并行引出 中图分类号：TP216 文献标识码：A 文章编号：1673—1255(2015)一03—0045—04 TestProgram SetDesignforEquipmentwithoutSpecialTestInterface WANGJian，GAOYing IAcademyofopto—Electronics,ChinaElectronicsTechnologyGroupCorporationlAOECETC),Tianjin300000，China) Abstract：Accordingtotheproblemoflowfaultisolationrateforsinglelinereplaceableunit(LRU)during testprogramset(TPS)testingoftheequipmentwithoutspecialtestinterface，testsignalparallelextractiontechnolo- gYisadopted．TesthardwaresuchastestadaptationmoduleofLRUisdeveloped．Thetestsignalfrom LRUisparal— lelextractedtoautomatictestequipmenttoperform testanalysis，andsignalLRU faultisolationisreliablyrealized， whiletheproblem oftestsignaldistortionrfom signalparallelissolvedusingdynamiclibrarydataanalytictechnolo- gyintestprograms．Andtheaccuracyoftestsignalparameteranalyticisimproved． Keywords：testprogramset(TPS)；linereplaceableunit(LRU)；specialtestinterface；parallelextraction 随着科学技术的发展，航空航天设备、军用武 用测试接 口，通过专用测试接 口将所需测试信号引 器系统等高技术产品的复杂程度 日益提高，传统的 出到UUT#I-部与ATE连接 ，通过解析测量结果及一 人工检测维护手段已经无法满足现代化装备的支 系列逻辑判断步骤来完成UUT性能测试和故障隔 持保障要求 ]，自动测试系统(ATS)正逐步成为复杂 离 。有些UUT在设计之初没有预留专用测试接 系统与设备可靠运行的必要保证。ATS主要包括 自 口，这样的设备在利用ATS进行故障检测和隔离现 动测试设备(ATE)、TPS开发管理软件及TPS，基于 场可更换单元 (LRU)时，只能借用 UUT原有 的接 ATS进行被测单元 (UUT)测试程序集 (TPS)的开 口，而原有接 口信号一般很难实现对单个LRU的隔