材化第二章13＂.ppt

高分子材料的结晶习性远比低分子化合物丰富。 在一定的条件下，具有结晶能力的高分子化合物从稀薄溶液或熔体中可以结晶出单晶、球晶、伸直链片晶、纤维状晶和串晶等多种形态的晶体。 如聚乙烯：一般情况下，聚乙烯以熔体加工成型，球晶是它的最普遍的基本形态，但在特殊的条件下，可以形成片状单晶、螺旋形生长单晶、金层堆叠伸直链片晶、纤维状晶体、串晶等多种形式。 如把聚丙烯（PP）薄膜高度拉伸，那么在拉伸方向上薄膜的强度非常高，但在垂直方向上，薄膜就非常容易被撕裂，从而形成“裂膜纤维” 目前在市面上大量使用的包扎带就是拉伸成纤化的PP裂膜纤维。 而双轴拉伸的有机玻璃（PMMA）板，抗裂纹扩展的性能提高很多，即使被子弹打中也不会碎裂。因此可做防爆材料 * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * 三.材料结构表征的基本步骤和方法 1.确定组成 利用化学分析法，光谱分析法、和X射线粉末衍射及性能测试分析成分。 2.测定结构 利用各种现代检测技术，确定结构类型及有关晶体结构方面的信息。 2.6.1材料结构表征的主要内容和方法 　对固体材料进行组成鉴定和结构测定之后，还必须接着进行下列工作： A、单晶还是多晶、晶粒的数目、大小、形状、和分布。 B、晶体结构的类型、点阵常数。 C、缺陷性质，数量、分布和畸变情况 D、结合键 的类型和键力大小。 E、杂质含量和分布。 F、表面结构。包括任何组成上的非均匀性或吸附的表面层。 三.材料结构表征的基本步骤和方法 2.6.1材料结构表征的主要内容和方法 物相 无定型或结构单胞空间群 晶体结构 局部结构 晶体缺陷 表面结构 多晶结构 元素分析 电子结构 键型 X射线衍射 √ √ √ √ √ √ √ 中子衍射 √ (√)√ √ √ 电子衍射和显微镜 √ √ √ √ √ √ √ 光学显微镜 √ √ (√) √ √ IR光谱 √ √ √ √ √ √ UV光谱 √ (√) √ √ NMR、ESR波谱 (√) √ (√) √ √ 电子光谱 √ (√) √ √ √ X射线光谱 √ (√) √ √ √ M?sshauer谱 √ √ √ 2.6.1材料结构表征的主要内容和方法 这是一种能对固体材料微观形貌进行直观、准确和可靠的表征的绝对方法。一些先进的电镜还可以进行颗粒的成分和结构分析。 根据分辩率的大小和特性可以分为： 　光学显微镜(OM)(0.8－150μm颗粒)； 　透射电子显微镜(TEM)(0.001-5μm颗粒)； 　扫描电子显微镜(SEM)(7－10nm颗粒)； 　分析电镜（透射＋扫描＋微区分析）。 2.6.2.主要表征方法 1.显微技术  光学显微镜 由于受光波波长的限制，分辩率已无法进一步提高，所以观察小于0.4μm的颗粒是不可能的。 但是光学显微镜仪器简单，操作方便，价格低廉，很适于大尺寸颗粒的观察 分析。 2.6.2.主要表征方法 得到材料细微的裂纹、裂缝、气泡的状况  透射电子显微镜 原理与光学显微镜相似，但以电子束代替光束，以电子透镜或电磁透镜代替光学玻璃透镜。 　用于材料内部微细形态与结构分析，并可得到晶格和微孔大小分布等信息。 2.6.2.主要表征方法  扫描电子显微镜 成相原理与电视显像过程有相似之外。不需要成像透镜，而是通过扫描的方法，按一定的时间空间顺序将样品表面图象在镜外显微荧光屏上逐点呈现出来。 几乎可以应用于任何试样的表面或断面的研究，通过对表面或断面形戊的观察和分析，得到多相材料的微细结构、晶区、粗表面、断面的表面及其机理的探讨、材料粘合及其失效、材料的填充或增强情况、材料的表面处理、缺陷等。  分析电镜 一种带有波谱仪或能谱仪的电子显微镜。可以在观察样本形貌的同时了解微小区域内所含元素的种类及其含量，在细胞超微结构水平上对其内部的化学元素成分进行定位、定性、定量分析。 2.6.2.主要表征方法 2.6.2.主要表征方法 2.衍射技术 可测晶体结构、无定形或结晶单胞空间群，物相，表面结构、多晶结构元素分析等。 可测定材料的物相、晶体结构、晶体缺陷等。 可测材料的物