SDH设备2M外时钟口测试方法.docVIP

SDH设备2M外时钟口测试方法 内部振荡器自由振荡工作方式的输出频率准确度 指标要求：≤±4.6ppm 测试方法：时钟模块在自由振荡工作方式，测试仪表接2M外时钟输出口，或者接SDH设备光输出口。 测试仪表的准确度应优于0.1ppm 输出口波形 指标要求：符合ITU-T, G..703模板，同2M业务口。 测试方法：2M外时钟输出口通过75Ω适配器接示波器，调用标准模板观察输出口波形。 输入口允许衰减 指标要求：在1024kHz处，允许衰减0～6dB，同2M业务口。 测试方法：PDH仪表产生2M信号，频偏为0，PCM30CRC帧结构， all zeros码，通过0～6dB衰减器接2M外时钟输入口，时钟模块应能锁定在仪表送来的外时钟，并保证： 无告警， 无时钟基准倒换， 不进入保持状态。 牵引出范围（又称失锁范围） 指标要求：≥+4.6ppm，≤-4.6ppm 测试方法：PDH仪表产生2M信号，PCM30CRC帧结构，all zeros码，时钟模块锁定在仪表送来的外时钟。调整仪表产生2M信号，逐渐加大正频偏量，直至时钟模块失锁，同样方法测试负频偏时失锁范围。 牵引入范围（又称捕捉范围） 指标要求：≥+4.6ppm，≤-4.6ppm 测试方法： PDH仪表产生2M信号，PCM30CRC帧结构，all zeros码，频偏为+5ppm，先不连接到外时钟输入口。时钟模块在自由振荡或保持状态。 连接仪表2M输出到时钟模块外时钟输入口，观察时钟模块是否能锁定仪表送来的外时钟。如果可以，断开连接，增加频偏量再试，直至时钟模块不能锁定仪表送来的外时钟临界频率。 同样方法测试负频偏捕捉范围。 输入口输出口反射衰减 指标要求：输入口50～102kHz ≥12dB 102～2048kHz ≥18dB 2048～3072kHz ≥14dB 输出口50～102kHz ≥6dB 102～3072kHz ≥8dB 同2M业务口。 测试方法：使用网络分析仪测试 输入抖动容限 指标要求：符合ITU-T G..813图9模板 ITU-T G..813图9 频率Hz 1 19 49 100 1k 10k 100k 抖动ns 250 250 100 100 100 100 100 抖动UIpp 0.5 0.5 0.2 0.2 0.2 0.2 0.2 测试方法：逐点测试 SDH分析仪产生2M信号，PCM30CRC帧结构，all zeros码，频偏为0。 按上表各频率点加入抖动值，抖动幅度应大于或等于指标值。 将信号接到时钟模块外时钟输入口，时钟模块应能锁定在仪表送来的外时钟，并保证： 无告警， 无时钟基准倒换， 不进入保持状态。 输出抖动 指标要求：≤0.05UIpp (滤波器20Hz～100kHz) 测试方法： locked方式和freerunning方式分别测试，2M外时钟输出口接SDH分析仪，测试时间60秒。 锁定方式的漂移（长期相位变化） 指标要求：符合ITU-T G..813 图1(MTIE)，图2(TDEV) 模板 测试方法： 高精度时钟源（10－10）做SDH分析仪的外时钟。 SDH分析仪产生2M信号，PCM30CRC帧结构，all zeros码，频偏为0，不加抖动和漂移，信号送时钟模块2M输入口。 时钟模块锁定在仪表送来的外时钟，时钟模块输出接SDH分析仪2M输入口。 SDH分析仪接收部分设置为漂移分析方式，通过串口SDH分析仪与PC机相连，PC机运行漂移分析软件。选ITU-T G..813图1(MTIE)，图2(TDEV)模板，测试时间3000秒。测得结果在模板之下为合格。 ITU-T G..813图1(MTIE) 模板 ITU-T G..813图2(TDEV)模板 输入漂移容限（输入噪声容限） 指标要求：符合ITU-T G..813图7模板 Peak-to-peak wander amplitude Wander frequency A1((s) A2((s) f4 (MHz) f3 (MHz) f2 (MHz) f1 (Hz) f0 (Hz) 0.25 2 0.32 0.8 16 0.13 10 ITU-T G..813图7 频率 0.32mHz 0.8mHz 16mHz 0.13Hz 10Hz 周期s 3125 1250 625 7.7 0.1 漂移UIpp 10 4 4 0.5 0.5 漂移μs 5 2 2 0.25 0.25 测试方法：逐点测试 高精度时钟源（10－10）做SDH分析仪的外时钟。 SDH分析仪产生2M信号，PCM30CRC帧结构，all zeros码，频偏为0，信号送时钟模块2M输入口。 时钟模块锁定在仪表送来的外时钟，时钟模块输出接SDH分析仪2M输入口。 SDH分析仪接收部分设置为漂移