第3章原子发射光谱法解析：.pptVIP

现代直读ICP-AES仪器 IRIS Intrepid全谱直读等离子体发射光谱仪(ICP-AES)是美国热电公司生产的原子光谱分析仪器，该仪器采用CID检测器和设计独特的光学系统，具有高分辨率、高灵敏度，可同时测定元素周期表中的73种元素，每个元素波长可任意选择，最大限度地减少了元素之间的相互干扰。适用于金属、环境、地球化学等领域对元素(0.00X %～X %)的高精度分析。 * * * 3.3.4.2 棱镜摄谱仪 根据棱镜色散能力的大小，分为大（倒色散率为0.1～0.8nm·mm-1）、中(倒色散率为0.8～2nm·mm-1)、小型（倒色散率为2～10nm·mm-1）摄谱仪。 材料 200～400 nm间色散率较大 玻璃棱镜 石英棱镜 400～780 nm间色散率较大 可见光区 近紫外区 最常使用的是中型石英棱镜摄谱仪 3.3.5 检测器 常用的检测方法：目视法、摄谱法和光电法。 3.3.5.1 目视法 用眼睛来观测谱线强度的方法称为目视法（看谱法） 3.3.5.2 摄谱法 用感光板记录光谱，然后用映谱仪观察谱线位置及大致强度，进行光谱定性及半定量分析。用测微光度计（黑度计）测量谱线的黑度，进行光谱定量分析。 谱线黑度用S表示，定义为透射比倒数的对数 I0－未受光处透过的光线的强度， I－谱线变黑部分透过的光线强度。 谱线的黑度S与照射在感光板上的曝光量H 有关。这种关系非常复杂，只能用图解的方法表示。通常以黑度S为纵坐标，曝光量的对数lgH为横坐标作图，所得曲线称为乳剂特性曲线。 lgHi b c A B D C 乳剂特性曲线 γ lgHi — 截距； Hi —乳剂的惰延量，Hi 越 大，乳剂越不灵敏。 bc —乳剂的展度，直线部 分在横轴上的投影。 γ —反衬度，直线斜率 α lgH AB－曝光不足 BC－曝光正常，定量分析 CD －曝光过度 3.3.5.3 光电法 利用光电转换器件，将不同波长的辐射能转化成光电流的信号。 光电转换器件 光电直读法：用光电倍增管接收和记录谱线的方法 固态成像器件：电荷注入器件（CID）和电感耦合器件（CCD） 采用CCD的主要优点：多谱线同时检测能力 发光发射器件 —光电倍增管 半导体光电器件 —固体成像器件 3.3.6 光谱仪类型 光谱仪按照使用色散元件的不同分为： 棱镜光谱仪和光栅光谱仪 按照光谱记录与测量方法的不同分为： 照相式摄谱仪和光电直读光谱仪 光电直读光谱仪分为多道直读光谱仪、单道扫描光谱仪、全谱直读光谱仪 光谱仪的作用是将光源发射的电磁辐射经色散后，得到按波长顺序排列的光谱，并对不同波长的辐射进行检测与记录。 多道直读光谱仪 图 3- 15 单道扫描光谱仪 图 3- 16 全谱直读光谱仪 图 3- 17 光谱仪类型 光源 色散元件 检测器 光栅摄谱仪或 棱镜摄谱仪 电弧 高压火花 光栅或棱镜 感光板 多通道光电直读光谱仪 ICP 光栅 光电倍增管 单通道光电直读光谱仪 ICP 光栅 光电倍增管 全谱直读光谱仪 ICP 中阶梯光栅 CCD 读出装置 样品引入 应用范围 主要特点 映谱仪 测微光度计 固体粉末 定性 定量分析 灵敏度高，谱线直观 费时 微机 溶液 定量分析 可同时测定几十个元素，分析速度快 微机 溶液 定量分析 分析试样的范围广 速度慢 微机 溶液 定量分析 分析试样的范围广 分析速度快 3.4 干扰及消除方法 3.4.1 光谱干扰 发射光谱中最重要的干扰是背景干扰 1. 光谱背景来源 （1）分子辐射 （2）连续辐射 （3）谱线的扩散 （4）电子与离子复合过程产生的连续背景 （5）光谱仪器中的杂散光 在原子发射光谱中的干扰类型可分为光谱干扰和非光谱干扰两大类。 常用的校准背景的方法有校准法和等效浓度法 校准法：是在被测谱线附近两侧测量背景强度，取其平均值作为被测谱线的背景强度Ib 等效浓度法：是在分析线波长处分别测量含有与不含有被测元素的试样的谱线强度Il和Ib 注意：背景的扣除不能用黑度直接相减，必须用谱线强度相减。 校准背景的基本原则：谱线的表观强度Il+b减去背景强度Ib 3.4.2 非光谱干扰 非光谱干扰主要来源于试样组成对谱线强度的影响，亦称为基体效应。 光谱缓冲剂：为了减小基体效应，通常在试样中加入一种或几种辅助物质，控制焰弧温度稳定，同时使试样稀释，用来抵偿试样组成变化的影响 。 常用的光谱缓冲剂：碱金属和碱土金属的盐类，如NaCl、Ca