《数字电子技术》实验手册2011-08.doc

数字电子与数字系统设计 实验手册 2011．8 实验一 门电路 实验目的 1、验证常用TTL门电路的逻辑功能； 2、熟练掌握常用仪器仪表的使用。 二、实验内容 完成与非门、或非门、与或非门、异或门及非门逻辑功能测试 三、实验设备及器件 1、数字电路实验台 1台 2、集成电路芯片 74LS00（二输入四与非门） 1片 74LS02（二输入四或非门） 1片 74LS51（双2-3输入与或非门） 1片 74LS86（二输入四异或门） 1片 74LS04（六非门） 1片 四、实验步骤 1、与非门逻辑功能测试 用74LS00二输入四与非门进行实验。 按图1接线。 图1 与非门逻辑功能测试电路 按表1要求通过开关改变输入端A与B的电平值，将输出端测试结果填入表中。 表1 与非门逻辑功能测试表 输 入 输 出 F A B 电压（V） 逻辑状态（ 灯亮 为“1”，灯灭为“0” ） 0 0 0 1 1 0 1 1 2、或非门逻辑功能测试 用74LS02二输入四或非门进行实验。 （1）按图2接线。 图2 或非门逻辑功能测试电路 按表2要求通过开关改变输入端A与B的电平值，将输出端测试结果填入表中。 表2 或非门逻辑功能测试表 输 入 输 出 F A B 电压(V) 逻辑状态（ 灯亮为“1”，灯灭为“0” ） 0 0 0 1 1 0 1 1 3、与或非门逻辑功能测试 用74LS51双2-3输入与或非门进行实验。 按图3接线。 图3 与或非门逻辑功能测试电路 按表3要求通过开关改变输入端A、B、C与D的电平值，将输出端测试结果填入表中。 表3 与或非门逻辑功能测试表 输 入 输 出 F A B C D 电压(V) 逻辑状态（ 灯亮为“1”，灯灭为“0” ） 0 0 0 0 0 0 0 1 0 0 1 1 0 1 1 1 1 1 1 1 4、异或门逻辑功能测试 用74LS86二输入四异或门进行实验。 按图4接线。 图4 异或门逻辑功能测试电路 按表4要求通过开关改变输入端A与B的电平值，将输出端测试结果填入 表中。 表4 异或门功能测试表 输 入 输 出 F A B 电压(V) 逻辑状态（ 灯亮为“1”，灯灭为“0” ） 0 0 0 1 1 0 1 1 5、非门逻辑功能测试 用74LS04六非门进行实验。 （1）按图5接线。 图5 非门逻辑功能测试电路 按表5要求通过开关改变输入端A与B的电平值，将输出端测试结果填入 表中。 表5 非门逻辑功能测试表 输 入 输 出 F A 电压(V) 逻辑状态（ 灯亮为“1”，灯灭为“0” ） 0 1 五、思考题 如何利用74LS00与非门实现“与电路”、“或电路”、“或非电路”、“异或电路”？试用门电路符号画出电路图。 六、实验要求 1、独立完成实验。 2、按规定的格式完成实验报告书写，要求给出每一个实验电路及测试结果。 实验二 组合逻辑电路（基于SSI） 一、实验目的 1、掌握基于TTL门电路的组合逻辑电路的设计方法； 2、掌握组合逻辑电路的功能测试方法。 二、实验内容 一位二进制全加器电路设计及功能测试。 三、实验设备及器件 1、数字电路实验台 1台 2、与非门芯片 若干 四、实验步骤 1、运用数字逻辑的基本原理，选用与非门电路设计一个一位二进制全加器。 2、参照设计好的电路图，完成电路接线。 3、根据设计要求完成电路逻辑功能验证。 五、思考题 如何利用已设计好的一位二进制全加器电路实现多位二制加法器的设计？ 六、实验要求 1、独立完成实验。 2、按规定的格式完成实验报告书写，要求写出设计过程，给出最终的实验电路及测试结果。 实验三 编码器与译码器 一、实验目的 1、掌握编码器、译码器的逻辑功能； 2、掌握基于M