應用光學影像全掃瞄技術於粒徑分析之研究.pdfVIP

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2016-05-13 发布于安徽
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應用光學影像全掃瞄技術於粒徑分析之研究.pdf

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應用光學影像全掃瞄技術於粒徑分析之研究唐永新1廖志偉2 余俊宏3 1國立台灣科技大學機械工程系 2國立台灣科技大學機械工程系 3國立台灣科技大學機械工程系本研究工作旨在開發一粒徑介於0.1mm～20mm微小顆粒之光學線性掃瞄影像分析儀，此自動化機械包括粒徑整列機構模組、線性掃瞄(LineScan)影像擷取模組、影像分析處理模組及電控驅動模組，微小粒徑之顆粒經此分析儀將可自勤計算分類，以了解受測物料粒徑分佈特性，經分析後可得知(待)測物之粒度分佈、平均粒徑、均匀度、圓形度，球形度等資訊。利用LineScanCCD 影像處理，取像率可逹100％,而且不會有重複和遺失的缺點，解決過去AreascanCCD影像遺漏的間題，來逹到礦石粒子全檢，可分析全部顆粒粒徑的數據，使功能更臻完善，並透過線性回歸方程式補償提高量測結果之可靠性與準確度，能縮短作業時間、减少人為誤差與有效地降低成本。壹物理罩怕目方式來{ 员粒數、j 备管之所{ 因掉落破石細砂進行辛卢斤示，南榆，另外得知一般