X射线荧光光谱分析讲课稿()详解.pptVIP

第三章 定性半定量分析 定性分析 定性分析是用测角仪进行角度扫描，通过晶体对X射线荧光进行分光，记录仪记录谱图，再解析谱图中的谱线以获知样品中所含的元素。 莫莱斯定律是定性分析的基础，它指出了特征X射线的波长与元素原子序数的一一对应关系。 目前绝大部分元素的特征X射线均已准确测出，新型的X射线荧光光谱仪已将所有谱线输入电脑储存，扫描后的谱图可通过应用软件直接匹配谱线。 定性分析 X射线荧光的光谱单纯，但也有一些干扰现象，会造成谱线的误读，即使电脑也不例外，因此在分析谱图过程中应遵守以下的X射线规律特点，对仪器分析的误差进行校正。 每种元素的一系列波长确定的谱线，其强度比是确定的，如Mo的特征谱线K系的Kα1, Kα2, Kβ1, Kβ2, Kβ3,它们的强度比是100∶50∶14∶5∶7。 不同元素的同名谱线，其波长随原子序数的增大而减小。（这是由于电子与原子核之间的距离缩短，电子结合得更牢固所致） 判断一个未知元素的存在最好用几条谱线，如Kα, Kβ，以肯定元素的存在。 应从峰的相对强度来判断谱线的干扰情况。若某一强峰是Cu Kα,则Cu Kβ的强度应是Kα的1/5，当Cu Kβ的强度很弱，不符合上述关系时，可能有其它谱线重叠在Cu Kα上。 半定量分析 为什么会出现半定量分析？ 层出不穷的新材料需要进行成分剖析，而传统的湿化学法既费时又费力。 有关工业废弃物中有害元素的立法，增加了对快速半定量分析的方法需求。 非破坏分析的要求增加，又无合适的标准样品可用。 用户对半定量分析结果已感满足，无须再做进一步的精密定量分析。 半定量分析软件的发展 1989年，UniQuant首先问世，作为新一代半定量分析软件。 之后，各XRF制造商陆续推出各自的半定量分析软件，如SemiIQ, ASQ, SSQ等。Philips公司在SemiIQ无标样软件基础上，开发出最新的IQ+无标样定量分析软件。 这些软件的共同特点是：所带标样只需在软件设定时使用一次；分析试样原则上可以是不同大小，形状和形态；分析元素范围9F — 92U；分析一个样品的时间是15-30分钟。 用IQ+软件半定量分析样品过程 半定量分析 对未知样进行全程扫描 对扫描谱图进行Search and Match（包括谱峰的识别，背景扣除，谱峰净强度计算，谱峰的匹配） 输入未知样的有关信息 (金属或氧化物；液体，粉末压片或熔融片；已知浓度组分的输入；是否使用膜校正和充氦系统；是否归一) 进行半定量分析 定性分析和半定量分析不需要标准样品，可以进行非破坏分析。半定量分析的准确度与样品本身有关，如样品的均匀性、块状样品表面是否光滑平整、粉末样品的颗粒度等，不同元素半定量分析的准确度可能不同，因为半定量分析的灵敏度库并未包括所有元素。同一元素在不同样品中，半定量分析的准确度也可能不同。大部分主量元素的半定量分析结果相对不确定度可以达到10%（95%置信水平）以下，某些情况下甚至接近定量分析的准确度。 半定量分析适用于：对准确度要求不是很高，要求速度特别快（30min以内可以出结果），缺少合适的标准样品，非破坏性分析等情况。 定性半定量分析 第四章 定 量 分 析 选择分析条件 现代波长色散X射线荧光光谱仪所提供的软件具有智能性功能，当选定要测定的元素时，能自动给出相应的分析条件，这些条件具有通用性，但是当具体样品浓度不同时，须根据实际情况调整，选择最佳的分析条件。 X光管的电压和电流选择 设置的高压和电流的乘积不能超出最大功率，即2400W。 kV K系线 L系线 60 Fe – Ba Sm – U 50 Cr – Mn Pr – Nd 40 Ti – V Cs – Ce 30 Ca – Sc Sb – I 20 Be – K Ca – Sn 选择分析条件 滤波片的选择 使用滤波片的目的是除去原级谱对待测元素的干扰，改善峰背比，提高分析的灵敏度。 例如：Rh靶测定Cu样中痕量的Sn, Cd和Ag时，Rh的Kβ线及Compton散射线完全覆盖了Cd和Ag的Kα线，使之不能测定，但若在X光管和样品之间加入300um的黄铜作为滤波片，则可以除去Rh的Kβ线及其Compton散射线。 1 分辨率好，有利于减少谱线干扰。 2 衍射强度高。 3 衍射后所得谱线的峰背比要大。 4 最好不产生高次衍射。 5 晶体受温度、湿度影响要小。 6 所选晶体的晶面间距2d值必须大于待分析元素的波长。 晶体的选择原则 选择分析条件 仪器配备晶体及其适用