第三节电感耦合等离子体发射光谱法.ppt

二光电倍增管： 用光电倍增管接受和记录谱线，又叫光电只读法 优点： 线性、重复、快速地用电信号读出 使光谱仪向自动化迈进了一大步 定性分析和定量分析 缺点： PMT是一维单点信号测量，无法摄谱 必须扫描测量才能获得谱线谱图信息，背景校正为非实时校正 无法实现分析结果再处理 * 光电直读等离子体发射光谱仪 光电直读是利用光电法直接获得光谱线的强度； 两种类型：多道固定狭缝式和单道扫描式； 一个出射狭缝和一个光电倍增管，可接受一条谱线，构成一个测量通道； 单道扫描式是转动光栅进行扫描，在不同时间检测不同谱线； 多道固定狭缝式则是安装多个（多达70个），同时测定多个元素的谱线； * 特点 : (1) 多达70个通道可选择设置，同时进行多元素分析，这是其他金属分析方法所不具备的； (2) 分析速度快，准确度高； (3) 线性范围宽， 4～5个数量级，高、中、低浓度都可分析； 缺点：出射狭缝固定，各通道检测的元素谱线一定； 改进型： n+1型ICP光谱仪 在多道仪器的基础上，设置一个扫描单色器，增加一个可变通道； 三 电荷耦合器件检测器（CCD)、电荷注入检测器（CID) 实现全谱接收和多元素同时测定 * 全谱直读等离子体光谱仪 采用CID阵列检测器，可同时检测165～800nm波长范围内出现的全部谱线； 中阶梯光栅分光系统，仪器结构紧凑，体积大大缩小； 兼具多道型和扫描型特点； CID：电荷注入式检测器(charge injection detector,CID), 28×28mm半导体芯片上，26万个感光点点阵( 每个相当于一个光电倍增管)； * 仪器特点: (1) 测定每个元素可同时选用多条谱线； (2) 可在一分钟内完成70个元素的定量测定； (3) 可在一分钟内完成对未知样品中多达70多元素的定性； (4) 1mL的样品可检测所有可分析元素； (5) 扣除基体光谱干扰； (6) 全自动操作； (7) 分析精度：CV 0.5%。 定性定量分析方法 定性分析 根据原子发射光谱中各元素固有的一列特征谱线的存在与否可以确定供试品中是否含有相应的元素 二定量分析 标准曲线法 在一定的实验条件下，某元素的谱线强度与等离子体中处于各个能级的该元素的原子或离子总密度成正比： I=a×cb lgI=a +blgc 可以作lgI－lgc图 标准曲线法是将已知含量的标样,测量所发射的谱线的强度作为分析曲线,然后将未知含量的样品与已知含量的样品在相同条件下测定.依据工作曲线,从而确定样品中元素的含量. 标准系列法是测试中最简单的方法。如果样品的基体很少，样品溶液和标准溶液的粘度、表面张力、密度等应该是相同或相近的，测试结果应是可靠的。但是如果试样溶液和标准溶液存在粘度、表面张力、密度等的差异，用标准溶液系列法就难以保证测定结果的准确，因为两者的雾化效率不一样。 干扰及其消除 主要干扰：物理干扰、电离干扰和光谱干扰 化学干扰可以忽略  * 物理干扰 样液的物理性质的不同，如表面张力、粘度、密度、酸度等不同引起测试结果的不同，这类干扰叫做物理干扰。 对于没有用蠕动泵控制进样量的ICP光谱仪，粘度和密度还影响进样量 避免物理干扰的办法 基体匹配（组成、总盐度、有机溶剂和酸的浓度）、内标法、标准加入法、采用蠕动泵进样 电离干扰与基体效应干扰 ICP中试样是在通道中蒸发、离解、电离和激发的，因而易电离元素的加入对离子线和原子线强度的影响比其他光源要小，但易电离元素的干扰效应对光谱分析仍有一定影响。 消除方法： 1）增加功率、降低载气流量、降低观察高度，以提高等离子体温度 2）基体匹配和标准加入法 光谱干扰 是ICP-AES中影响最大的干扰 包括背景干扰和谱线重叠干扰。 背景干扰：背景校正技术扣除 谱线重叠干扰：使用高分辨率的光谱仪 选择干扰少的谱线作为分析线 干扰因子校正法 ICP使用范围 工作场所空气中有害物质的ICP-AES检测方法 元素 代表化合物 方法标准号 方法名称 钡 金属钡、氧化钡、氢氧化钡和氯化钡 GBZ/T160.2 等离子体发射光谱法 锂 金属锂、氢化锂 GBZ/T160.11 氢化锂发