SPC初级教材概要.pptVIP

SPC初级 课程简介 1 SPC发展简介 ?1-1 SPC基本概念 ?1-2 SPC的发展史 ?1-3 SPC主要功用 ?1-4 SPC实施流程 2数据收集 ?2-1、数据及类型 ?2-2、抽样检验基础 ?2-2、抽样检验基础 ?2-2、抽样检验基础 ?2-2、抽样检验基础 ?2-2、抽样检验基础 ?2-2、数据收集要点 ?2-3、数据抽样法 ?2-3、数据抽样法 ?2-3、数据抽样法 ?2-3、数据抽样法 ?2-4、数据收集表 3 控制图基本理论 ?3-1、控制图形成 ?3-2、控制图要素 ?3-3、控制图原理 ?3-4、控制图作用 ?3-4、控制图的使用 ?3-5、合理子组原则 ?3-6、控制图分类及选择 ?3-6、控制图分类及选择 ?3-6、控制图分类及选择 ?3-6、控制图分类及选择 ?3-6、控制图分类及选择 ?3-6、控制图分类及选择 ?3-6、控制图分类及选择 ?3-6、控制图分类及选择 ?3-6、控制图分类及选择 ?3-7、控制图判异准则 ?3-7、控制图判异准则 ?3-7、控制图判异准则 ?3-7、控制图判异准则 ?3-7、控制图判异准则 ?3-7、控制图判异准则 ?3-7、控制图判异准则 ?3-7、控制图判异准则 ?3-7、控制图判异准则 4过程能力分析 ?4-1、正态性分布及检定 ?4-1、数据正态性检定 ?4-2、数据受控分析 ?4-2、数据受控分析 ?4-1、过程能力概念 ?4-3、过程能力指数 ?4-3、过程能力指数 ?4-4、过程能力分析 5改善方法论简介 ?5-1、一般改善方法论简介 ?5-2、透过SPC看改善方向 ?5-3、透过能力看改善方向 课程回顾 1、考试、签到2、满意度调查表 均值-标准差控制图?X-R 2.98 11 2.99 1 3.13 3.11 3.12 3.08 3.04 3.01 3.02 3.05 2.99 厚度 20 19 18 17 16 15 14 13 12 序号 3.07 2.98 3.01 3.06 3.03 3.05 2.98 3.02 3.05 厚度 10 9 8 7 6 5 4 3 2 序号 单值-移动极差图I-MR 特点：灵敏度低，样本量少 适用场合：取样费时、取样费用高、质量均匀 例、某电子厂的QC小组欲优化芯片研磨过程，首先对其厚度进行SPC控制，小组共收集20个厚度数据，试用控制图分析该过程的稳定情况。 NP图：在二极管生产线上，于每个班次结束前抽取150个二级管进行检验。以下是6月份共计30个工作日每天的不合格二级管数量的记录。试绘制一个控制图来分析产品的不合格品率是否稳定。 5 150 30 7 150 15 7 150 29 3 150 14 7 150 28 12 150 13 8 150 27 6 150 12 8 150 26 9 150 11 7 150 25 7 150 10 11 150 24 8 150 9 12 150 23 4 150 8 4 150 22 3 150 7 5 150 21 6 150 6 4 150 20 6 150 5 7 150 19 8 150 4 3 150 18 6 150 3 6 150 17 4 150 2 10 150 16 3 150 1 不合格数 样品数量 日期 不合格数 样品数量 日期 样品数量一致p图 样品数量不一致p图 30 10 15 35 10 14 24 14 16 28 18 24 35 40 32 18 23 28 26 缺陷数 10 10 10 10 10 10 10 10 10 10 10 10 10 数量 13 12 11 10 9 8 7 6 5 4 3 2 1 日期 C图：在芯片上若有1个瑕疵点，则被认为是一个缺陷，每个班次结束前抽取10片芯片 进行检验。下面是15个工作日的缺陷情况 样本量一样时的u图 样本量不一样时的u图 准则1: 一点超出控制界限 区域A (+3σ ) 区域A ( -3σ ) 区域B (+2σ ) 区域C (+1σ ) 区域C ( -1σ ) 区域B ( -2σ ) UCL CL LCL A A B C C B UCL CL LCL × × 可能原因：计算错误、测量误差、原材料不合格、设备故障 准则2: 连续9点在中心线的同侧 A A B C C B UCL CL LCL 可能原因：过程平均值μ减小 准则3: 连续6点呈上升或下降趋势 A A B C C B UCL CL LCL 可能原因：工具逐渐磨损、维修逐渐变坏、操作人员技能的逐步提高，从而使参数α随时间而变化。 准则4: 连续14点上下交替 A A B C C B UC