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实验一基本逻辑门逻辑功能测试及应用.doc

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实验一基本逻辑门逻辑功能测试及应用

实验一 基本逻辑门逻辑功能测试及应用 实验目的 1. 掌握TTL集成逻辑门的逻辑功能及其测试方法。 2. 掌握TTL器件的使用规则。 3. 熟悉数字电路实验仪的结构、基本功能和使用方法。 4. 练习熟练使用DS1052E型数字示波器。 实验原理 门电路是构成各种复杂数字电路的基本逻辑单元,掌握各种门电路的逻辑功能和电器特性,对于正确使用数字集成电路是十分必要的。目前应用最广泛的集成电路是TTL和CMOS。 TTL集成逻辑门电路根据其型号的不同,有不同的内部结构和引脚,在本实验中我们是门电路中应用较多的一种, 图1-1 与非门逻辑功能测试电路 (2)参照74LS51的引脚图,按图1-2连接实验电路,接通VCC和VSS(GND),检查无误后接通电源。 (3)当输入端A、B、C、D为表1-2所列状态时,分别测出输出端的电压并转换成逻辑状态,将结果填入表1-2中。 表1-2 与或非门逻辑功能测试 输入端逻辑状态 输出Y A B C D 电压 逻辑状态 0 0 0 0 0 0 0 1 0 0 1 0 0 0 1 1 0 1 0 0 0 1 0 1 0 1 1 0 1 1 1 1 图1-2 与或非门逻辑功能测试电路 3.组合逻辑电路的逻辑关系测试 (1)选取二输入端与非门74LS00芯片,分别按图1-3和图1-4连接实验电路(参看74LS00的引脚图),检查无误后接通电源。 (2)分别将电路的输入端A、B接逻辑电平开关的电平输出插口,输出端Z1及Z2接发光二极管的电平输入插口。 (3)当输入端A、B为表1-3及1-4所列状态时,分别观察并记录输出端Z1及Z2的逻辑状态,结果记录于表1-3中。 图1-3 组合逻辑电路(Ⅰ) 图1-4 组合逻辑电路(Ⅱ) 表1-3 组合逻辑电路功能测试 输入 输出 A B Z1 Z2 0 0 0 1 1 0 1 1 4.观察脉冲信号对与非门的控制作用 选取二输入端与非门74LS00,将输入端A接入1kHZ~10kHZ的连续方波脉冲信号,另一输入端B接逻辑电平开关的电平输出插口,电路如图1-5所示。用示波器观察并描绘输入端在B=0和B=1两种情况下, A和Z的波形,将观察到的结果记录于图1-6中(注意高、低电平的变化和相位关系的对应)。 图1-5 与非门对脉冲的控制作用测量电路 图1-6 与非门输入输出波形图 五、预习报告要求 1. 认真阅读数字电子技术教材中有关门电路的内容,掌握与非门、与或非门、异或门的逻辑功能1. 记录实验数据和波形图总结TTL门电路和CMOS门电路多余输入端的处理方法。欲使一个异或门实现非逻辑,电路将如何连接?为什么说异或门是可控反相器? 6

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