ESD知识与ESD控制概论.pptVIP

ESD知识与控制;简 介;一、基本概念;二、静电的产生;二、静电的产生续;三、ESD危害;;静电放电对电子工业的危害：器件损坏的起始电压为700v 器件失效中EOS/ESD失效率占30~40%，而高静电敏感的器件EOS/ESD失效率高达60%以上。 ESD使元器件软击穿。 静电吸附（影响元器件或整机质量）。 影响： 降低洁净度。 降低耐压等级。 ESD电磁辐射引起电磁干扰。 影响： 逻辑电路程序混乱 温升 硬击穿 软击穿 上述危害可能发生在预处理、生产过程、测试、总装、调试、包装、储存、发送、维修、运输各个环节。 实验结果表明：未采取ESD保护的车间，集成电路器件失效率比采取ESD保护车间的器件失效率高5.5倍。;硬损伤：一次性损坏，导致完全失效。（右图）; 案例：美国ATT公司的客户投诉，集成电路的薄膜精确电阻，规定电阻误差值在0.2％。然而，客户实测电阻值高于理想值4－5倍。下图左边的电阻显示清晰的激光亮线，测量电阻值为300R。右边电阻明显有损伤部位，测量阻值为1411R。; 我们未认识到ESD对电子、电气产品的影响，因为它们被以下原因掩盖： （1）把ESD失效分析为瞬态过程电应力而不是静电应力引起的。 （2）把ESD引起的失效错误的归为随机的、未知的初失效、制造的缺陷