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X射线显微分析 ;7.1 X射线简介 ;;7.2 X射线的产生;7.3 X射线光谱;（2）X射线特征光谱;(1)主量子数? n≠0 (2)角量子数? L=±1 (3)内量子数? J=±1，0 J为L与磁量子数矢量和S； ? n=1,2,3，?线系, ?线系, ? 线系； L→K层K?； K?1 、 K?2 M→K层K? ； K?1 、 K?2 N→K层K? ； K? 1 、 K? 2 M→ L 层L? ； L?1 、 L?2 N→L层L ? ； L ?1 、 L ?2 N→M层M?； M?1 、 M?2 ;特征光谱——定性依据;7.4 X-射线的辐射 （absorption, diffuse and diffraction of X-ray ）;X射线的吸收;元素的X射线吸收光谱;2.X射线的散射;（2）非相干散射;3. X射线的衍射;Bragg衍射方程及其作用; 除了X射线管许多放射性物质可以用于X射线荧光和吸收分析。常用的放射性元素为：55Fe 57Co　109Cd,; 使X射线管产生的X射线单色化，常采用滤波片法。利用滤波片的吸收限进行滤波，除去不需要的Kβ线，使用滤波片是最简单的单色化方法，但只能获得近似单色的X射线。原子序数低于靶元素原子序数1或2的元素，其K吸收限波长正好在靶元素的Kα和Kβ波长之间，因此对于每种元素作为靶的X射线管，理论上都能找到一种物质制成它的Kβ滤波片。使用Kβ滤波片还可以吸收掉大部分的“白色” 射线（图1.8）。滤波片的厚度通常按Kβ的剩余强度为透过滤波片前的0.01计算，此时Kα通常被衰减掉一半;7.5 X-射线的一般检测;此外还有：NaI(Tl)闪烁计数管(SC)，位敏正比计数管(多丝正比计数管)，位敏正比计数管(多丝正比计数管)， X射线电视，就不详加介绍 ;X射线显微分析 ;交互作用区;Moseley 定律;X-射线的空间分辨率;二. x射线波谱仪（WDS） ; 利用晶体对x射线的布拉格衍射来进行波长选择，根据布拉格衍射条件，即若晶体的面间距d一定，则2dSinθ=λ。连续地改变θ角就可以在与入射方向成2θ角的相应方向上接收到各种单一波长的x-ray。 当样品,晶体,检测器满足罗兰圆（Row Lan)关系时,弯晶体表面相对于由样品某点发散的x-ray入射角处处相等。检测器收集到由全部晶体表面强烈衍射的单一波长的x-ray，如果发射源至晶体的距离为L，聚焦圆的半径为R,则有： L=2RSinθ=(R/d)λ ;crystal and detector are maintained on the circumference of the Rowland circle for all tuned positions.;分光晶体：;Be窗口;特征x-ray;图4-3 波谱谱图示意 ;二、x-ray能量色散谱仪;; 能谱仪利用分析识别特征x-ray能量来进行成分分析。样品发射的x-ray通过铍窗进入锂漂移硅探测器。硅原子每吸收一个X射线光子就释放一个光电子，该光电子形成电子---空穴对。这些电子---空穴对被偏压收集形成电荷脉冲。脉冲的高度与x-ray的能量是对应的。前置放大器转变为电压脉冲。由主放大器进一步整形放大送入多道分析器。多道分析器按照脉冲的高度进行分类，然后对高度相同的脉冲进行累计，得到能谱图。 对脉冲高度分类 x-ray能量分类 对脉冲计数 x-ray的强度;电子＋样品; Si(li)探测器 　　当x-ray射到中性的I层内的硅原子上，将其价电子轰击到导带，价带中留下空穴，在外加电场的作用下输出一个电脉冲,电子空穴对的数量与x-ray光子的能量成正比。;X-探头的窗口和晶体部分 (sapphire);前置放大器;四、WDS,　EDS定性定量方法初步;1.）WDX的定性分析： 波长与元素序数间的关系；特征谱线； 查表：谱线—2?表； 例：以LiF(200)作为分光晶体，在2?=44. 59处有一强峰，谱线—2?表显示为：Ir(K?)，故试样中含Ir； （1）每种元素具有一系列波长、强度比确定的谱线； Mo(Z42)的K系谱线K?1、K?2 、K?1 、K?2 、K?3 强度比 100、 50、 14、 5、 7 （2）不同元素的同名谱线，其波长随原子序数增加而减小