光电器件与检测实验讲义详解.doc

实验一 面阵CCD尺寸测量实验 目前，CCD已经在各个高科技领域得以迅速应用。CCD全称为电荷藕合器件，CCD本身有自扫描、高分辨率、高灵敏度、结构紧凑便于计算机处理、易于和自动控制设备连接等一系列优点。由于CCD具有非接触性测量、分辨率高等方面的特点，因此CCD器件在物体外型测量、表面检测、图像传真、智能传感等方面得到了广泛的应用。另外，CCD测量速度快，所以不仅可用于静态测量，还可用于动态在线检测或识别零件，因此CCD技术在高精度的在线检测系统中应用也越来越多。在我国，从80年代中期便开始逐渐应用CCD检测技术，并已部分运用到了各种自动化检测领域。现代加工技术发展迅速，自动化程度、加工精度不断提高，相应的对检测设备也提出了新的要求，如高精度，自动化，在线检测等等，新技术，新工艺，新项目对大直径尺寸高精度测量技术提出了越来越高的要求。的精密测量在检测技术中是一个应用十分普遍且有实际应用价值的问题。② 通过对标准图形的点、线、面的测量过程掌握应用面阵CCD进行尺寸测量的基本方法； ③ 通过对标准图形的点、线、面的测量过程掌握应用面阵CCD进行尺寸测量，掌握测量范围、精度和测量时间等问题。 【实验仪器】 ① 带有USB2.0输入端口的计算机（或GDS-Ⅲ光电综合实验平台），推荐使用WIN2000以上操作系统，使用1024(768分辨率，24或32位真彩显示； ② YHACCD－Ⅲ